恭喜置富科技(深圳)股份有限公司熊建林获国家专利权
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龙图腾网恭喜置富科技(深圳)股份有限公司申请的专利存储芯片的可靠性测试装置获国家实用新型专利权，本实用新型专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN223006569U 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的实用新型授权公告中获悉：该实用新型的专利申请号/专利号为：202422120328.9，技术领域涉及：G11C29/56；该实用新型存储芯片的可靠性测试装置是由熊建林;张浩明;肖军设计研发完成，并于2024-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。
本存储芯片的可靠性测试装置在说明书摘要公布了：本实用新型公开了一种存储芯片的可靠性测试装置，包括测试主板和多个测试子板，每个测试子板设置一种封装结构的待测存储芯片；测试主板包括控制区域、隔温区域和第一连接区域，控制区域设置有控制模块，第一连接区域设置有第一连接模块，每个测试子板上均设有第二连接模块；控制模块的第一数据端与第一连接模块电连接；第一连接模块与第二连接模块插拔连接，第二连接模块还与待测存储芯片的数据端电连接；隔温区域设置有隔温装置，隔温装置将控制区域和测试子板隔离在温箱的不同温度区域。由于测试主板与测试子板插拔连接，测试主板和隔温装置都只需要一个，避免了测试结束后隔温装置的空置，提高了存储芯片可靠性测试装置的利用率和测试效率。
本实用新型存储芯片的可靠性测试装置在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片的可靠性测试装置，其特征在于，包括：测试主板和多个测试子板，每个测试子板设置一种封装结构的待测存储芯片；所述测试主板包括控制区域、隔温区域和第一连接区域，所述控制区域设置有控制模块，所述第一连接区域设置有第一连接模块，每个所述测试子板上均设有第二连接模块；所述控制模块的第一数据端与所述第一连接模块电连接；所述第一连接模块与所述第二连接模块插拔连接，所述第二连接模块还与所述待测存储芯片的数据端电连接；所述隔温区域设置有隔温装置，所述隔温装置将所述控制区域和所述测试子板隔离在温箱的不同温度区域。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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