恭喜深圳精智达技术股份有限公司张景程获国家专利权
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龙图腾网恭喜深圳精智达技术股份有限公司申请的专利一种检测曲面屏外观缺陷的方法、装置及存储介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119559165B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510097578.1,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种检测曲面屏外观缺陷的方法、装置及存储介质是由张景程;杨硕设计研发完成,并于2025-01-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种检测曲面屏外观缺陷的方法、装置及存储介质在说明书摘要公布了:本申请公开了一种检测曲面屏外观缺陷的方法、装置及存储介质,用于提高曲面屏外观缺陷的检测精度。获取第一待检测图像和第二待检测图像;提取第一待检测图像的亮带信息;对第二待检测图像进行灰阶值分析,以提取出区域特征信息;通过亮带信息和区域特征信息确定第二待检测图像的候选分割线区域;根据候选分割线区域确定初始分割线;通过候选分割线区域的区域特征动态调整初始分割线的位置,直到分割线达到预设条件,生成目标剪切分割线;根据目标剪切分割线对第一待检测图像和第二待检测图像进行剪切,生成曲面区域图像和平面区域图像;将曲面区域图像和平面区域图像进行拼接,生成拼接图像;对拼接图像进行缺陷分析,生成缺陷特征分析结果。
本发明授权一种检测曲面屏外观缺陷的方法、装置及存储介质在权利要求书中公布了:1.一种检测曲面屏外观缺陷的方法,其特征在于,包括:获取待检测曲面屏的第一待检测图像和第二待检测图像,所述第一待检测图像和第二待检测图像分别为启动曲面侧光源和径向侧光源时采集的图像;提取所述第一待检测图像的亮带信息;对所述第二待检测图像进行灰阶值分析,以提取出区域特征信息;通过所述亮带信息和所述区域特征信息确定所述第二待检测图像的候选分割线区域;根据所述候选分割线区域确定初始分割线,包括:对所述候选分割线区域进行连通域分析,合并相邻的符合条件的候选分割线区域;根据合并后的候选分割线区域生成连续的初始分割线;根据合并后的候选分割线区域生成连续的初始分割线,包括:确定每一个合并后的候选分割线区域的候选区域灰度均值;根据所述亮带信息确定每一个合并后的候选分割线区域的亮带特征值;根据所述候选区域灰度均值和所述亮带特征值计算每一个合并后的候选分割线区域的区域加权值;根据所述区域加权值确定符合条件的候选分割线区域,并使用形态学操作来平滑区域边界,生成初始分割线;通过所述候选分割线区域的区域特征动态调整所述初始分割线的位置,直到分割线达到预设条件,生成目标剪切分割线,所述区域特征包括区域面积和区域灰阶,包括:根据合并后的候选分割线区域的区域特征,动态调整初始分割线的位置和形状,生成中间分割线;对所述中间分割线和所述初始分割线进行迭代条件分析;当迭代条件分析结果不满足终止迭代条件时,确定中间分割线的当前分割线区域,根据当前分割线区域的区域特征,动态调整初始分割线的位置和形状;当迭代条件分析结果满足终止迭代条件时,根据中间分割线计算目标剪切分割线;根据所述目标剪切分割线对所述第一待检测图像和所述第二待检测图像进行剪切,生成曲面区域图像和平面区域图像;将所述曲面区域图像和所述平面区域图像进行拼接,生成拼接图像;对所述拼接图像进行缺陷分析,生成缺陷特征分析结果。
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