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龙图腾网恭喜爱利彼半导体设备(上海)有限公司申请的专利一种半导体器件稳态热阻测试装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119644090B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510167901.8，技术领域涉及：G01R31/26；该发明授权一种半导体器件稳态热阻测试装置是由郭高朋;魏立华设计研发完成，并于2025-02-17向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种半导体器件稳态热阻测试装置在说明书摘要公布了：本发明属于半导体测试技术领域，公开了一种半导体器件稳态热阻测试装置，包括箱体，所述箱体内部一侧设置有控制设备，且其另一侧设置有操作台，所述操作台顶部设置有测试板，所述操作台两侧均设置有支撑架，所述支撑架中部设置有移动结构，所述移动结构底部设置有测试传感器，所述测试板中部开设有测试槽，所述测试槽内部设置有半导体器件。通过夹持块与移动块对半导体器件进行夹持固定，同时通过清理结构对半导体器件进行清洁，防止灰尘与杂质粘附在表面，使半导体器件表面不平整，再通过刮板的移动将导热膏均匀的涂在半导体器件的表面，有效填补缝隙，同时增强热传导效果，从而防止产生接触热阻，影响测试的效果。

本发明授权一种半导体器件稳态热阻测试装置在权利要求书中公布了：1.一种半导体器件稳态热阻测试装置，包括箱体（1），其特征在于，所述箱体（1）内部一侧设置有控制设备（2），且其另一侧设置有操作台（3），所述操作台（3）顶部设置有测试板（4），所述操作台（3）两侧均设置有支撑架（5），所述支撑架（5）中部设置有移动结构（6），所述移动结构（6）底部设置有测试传感器（7），所述测试板（4）中部开设有测试槽，所述测试槽内部设置有半导体器件（8），所述测试槽两侧且其位于测试板（4）顶部开设有移动槽，所述移动槽内壁固定安装有第一电动推杆（9），所述第一电动推杆（9）一端固定安装有移动块（10），所述移动块（10）顶部设置有夹持块（11），所述夹持块（11）移动块（10）中间设置有第二电动推杆（12），所述夹持块（11）内侧壁开设有安装槽，所述安装槽内部设置有清理结构（13），所述测试板（4）一侧设置有固定块（14），所述固定块（14）内部设置有第一电机（15），所述第一电机（15）输出端传动连接有转动杆（16），所述转动杆（16）顶部与固定块（14）内壁转动连接，所述固定块（14）底部与操作台（3）顶部转动连接，所述固定块（14）一侧固定安装有连接块（17），所述连接块（17）一端顶部固定安装有储存箱（18），所述储存箱（18）底部固定安装有连接管（19），所述固定块（14）另一侧固定安装有安装块（20），所述安装块（20）底部开设有滑槽，所述滑槽内部设置有第二电机（21），所述第二电机（21）输出端传动连接有螺纹杆（22），所述螺纹杆（22）一端螺纹连接有刮板（23），所述刮板（23）顶部与滑槽内壁滑动连接。

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