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龙图腾网恭喜南京邮电大学申请的专利提升量子密钥分发系统性能的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119743258B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-20发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510247002.9，技术领域涉及：H04L9/08；该发明授权提升量子密钥分发系统性能的方法是由张春梅;闻章;吴昱达设计研发完成，并于2025-03-04向国家知识产权局提交的专利申请。

本提升量子密钥分发系统性能的方法在说明书摘要公布了：本发明公开一种提升量子密钥分发系统性能的方法，该方法主要包括：发送方根据随机选择的光强参数、比特值及基矢制备量子态，并通过量子信道向接收方传输光脉冲；接收方根据随机选择的基矢对接收的光脉冲进行测量，生成原始测量数据；重复若干次后，保留双方基矢一致的比特数据；基于筛选后的比特数据进行参数估计；将比特串划分为长度一致的比特块，进行优势提取，从弱相关的比特中提取出相关度较高的密钥比特串，对候选密钥执行纠错及隐私放大操作，生成最终安全密钥。本发明采用优势提取技术来提升兼容后脉冲效应的量子密钥分发系统的性能。仿真结果显示，该方法可以显著提高量子密钥分发系统在兼容后脉冲效应情况下的性能。

本发明授权提升量子密钥分发系统性能的方法在权利要求书中公布了：1.一种提升量子密钥分发系统性能的方法，其特征在于，包括以下步骤：S100、发送方Alice根据随机选择的光强参数、比特值及基矢制备量子态，并通过量子信道向接收方Bob传输光脉冲；S200、接收方Bob根据随机选择的基矢对接收的光脉冲进行测量，生成原始测量数据；S300、发送方Alice和接收方Bob重复步骤S100-S200若干次后，保留双方基矢一致的比特数据；S400、基于筛选后的比特数据，发送方Alice和接收方Bob计算兼容后脉冲效应的不同基矢下不同光强的计数率及误码率，并估计出兼容后脉冲效应的不同基矢下的单光子计数率和单光子误码率；S500、发送方Alice和接收方Bob分别将其比特串划分为长度一致的比特块，进行优势提取，从弱相关的比特中提取出相关度较高的密钥比特串；S600、对候选密钥执行纠错及隐私放大操作，生成最终安全密钥；该方法应用在兼容后脉冲效应的BB84-QKD系统时；步骤S100中发送方Alice随机地选取光强l∈{u,v,w}，比特s∈{0,1}和基矢ζ∈{Z,X}来制备量子态，并发送给接收方Bob；步骤S200中接收方Bob随机地选取基矢ζ∈{Z,X}来测量所收到的光脉冲；步骤S400中发送方Alice和接收方Bob计算出兼容后脉冲效应的不同基矢ζ下不同光强l的计数率和误码率然后，发送方Alice和接收方Bob分别估计出兼容后脉冲效应的不同基矢ζ下的单光子计数率和单光子误码率兼容后脉冲效应的不同基矢ζ下不同光强l的计数率和误码率模型分别为： 其中： 表示光脉冲和暗计数引起的响应概率，表示后脉冲引起的响应概率，ed为本底误码率，η为发送方Alice和接收方Bob间的传输效率，Y％为单光子探测器的暗计数率，Pap为发生后脉冲的概率，Pa为总的后脉冲率，是不同光强下的平均响应概率，Pl是选择l光强的弱相干态光源的概率，是选择l光强的弱相干态光源时所有基矢的平均响应概率，Pζ是发送方Alice和接收方Bob选择基矢ζ的概率；该方法应用在兼容后脉冲效应的RFI-QKD系统时；步骤S100中发送方Alice随机地选取光强l∈{u,v,w}，比特s∈{0,1}和基矢ζ；＝{Z；,X；,Y；}来制备量子态，并发送给接收方Bob；步骤S200中接收方Bob随机地选取基矢ζ＝{Z,X,Y}来测量所收到的光脉冲；其中发送方Alice和接收方Bob的Z基、X基、Y基满足条件：Z；＝Z，X＝cosβX；+sinβY；，Y＝cosβY；-sinβX；，下标A和B分别表示发送方Alice和接收方Bob，β表示参考系的偏转角度；步骤S300中发送方Alice和接收方Bob重复步骤S100-S200若干次后，设定将双方使用基矢组合Z；Z，X；XY；Y以及X；YY；X的比特数据保留下来，同时舍弃其他基矢组合的比特数据；其中X；XY；Y表示Alice用X基制备量子态同时Bob用X基去测量接收到的量子态和Alice用Y基制备量子态同时Bob用Y基去测量接收到的量子态的联合事件；X；YY；X表示Alice用X基制备量子态同时Bob用Y基去测量接收到的量子态和Alice用Y基制备量子态同时Bob用X基去测量接收到的量子态的联合事件；步骤S400中发送方Alice和接收方Bob计算出兼容后脉冲效应的基矢组合X；X，X；XY；Y和X；YY；X下不同光强l的计数率和以及误码率和然后，Alice和Bob分别估计出兼容后脉冲效应的基矢组合Z；Z，X；XY；Y和X；YY；X下的单光子计数率和以及单光子误码率和

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