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龙图腾网恭喜日本电产株式会社申请的专利外观检查系统和计算机程序获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115298539B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202080098729.0，技术领域涉及：G01N21/88；该发明授权外观检查系统和计算机程序是由森口和也设计研发完成，并于2020-10-22向国家知识产权局提交的专利申请。

本外观检查系统和计算机程序在说明书摘要公布了：提供一种能够在抑制缺陷的漏检的同时抑制过度检测的技术。提供利用被检查物的图像来判定被检查物合格与否的外观检查系统等。外观检查系统具有：存储装置，其存储有合格品图像、记述有多个阈值的基准表以及记述有多个偏移值的偏移表；以及运算电路。多个阈值分别是用于判定为对应的多个部分区域各自所包含的被检查物的像表示缺陷的基准。运算电路执行判定部分图像的图像特征量是否被分类为过度检测类别的处理。在部分图像的图像特征量被分类为过度检测类别的情况下，运算电路进一步使用偏移值来变更部分区域的位置处的基准表的阈值，并使用变更后的基准表来判定在被检查物的图像中是否包含有缺陷的像。

本发明授权外观检查系统和计算机程序在权利要求书中公布了：1.一种外观检查系统，其利用被检查物的图像来判定所述被检查物合格与否，其中，该外观检查系统具有：存储装置，其存储有拍摄了被判定为合格品的多个物品而得的多个图像、记述有多个阈值的基准表以及记述有多个偏移值的偏移表；接口装置，其接收被检查物的图像数据；以及运算电路，所述被检查物的图像和所述多个图像分别包含多个部分区域，所述基准表的所述多个阈值的每一个阈值和所述偏移表的所述多个偏移值的每一个偏移值与所述多个部分区域分别对应地设定，所述多个阈值分别是用于判定为对应的所述多个部分区域各自所包含的所述被检查物的像表示缺陷的基准，所述多个偏移值包含使所述多个阈值的一部分变化的第1种偏移值和不使其余的一部分变化的第2种偏移值，所述运算电路执行如下处理：处理a，对所述图像数据进行预先确定的缺陷检测处理，在所述被检查物的图像中包含有至少一个缺陷的像的情况下，提取所述被检查物作为缺陷候选；处理b，从提取为所述缺陷候选的所述被检查物的图像中切取部分图像，其中，切取的所述部分图像的位置是所述偏移表中的所述第1种偏移值所对应的部分区域的位置；处理c，判定切取的所述部分图像的图像特征量是否被分类为过度检测类别，其中，所述过度检测类别是所述第1种偏移值所对应的部分区域的位置处的、所述多个图像的各部分图像的图像特征量以规定以上的比例被分类为过度检测的类别；处理d，在切取的所述部分图像的图像特征量被分类为所述过度检测类别的情况下，使用所述第1种偏移值来变更所述部分区域的位置处的所述基准表的阈值，进一步提高用于判定为所述被检查物的像表示缺陷的基准；以及处理e，使用变更了所述阈值的所述基准表来判定在所述被检查物的图像中是否包含有至少一个缺陷的像。

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