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龙图腾网恭喜FEI公司申请的专利用于带电粒子系统中样品的3D图像的深度重建获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114332346B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111149971.9，技术领域涉及：G06T17/00；该发明授权用于带电粒子系统中样品的3D图像的深度重建是由P·波托切克;M·霍沃尔卡;M·皮门;L·许布纳设计研发完成，并于2021-09-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本用于带电粒子系统中样品的3D图像的深度重建在说明书摘要公布了：用于带电粒子系统中样品的3D图像的深度重建。用于使用切片和视图过程产生成像的3D样品的高分辨率重建的方法和系统，其中成像波束的电子相互作用深度大于切片厚度。用深度模糊减少算法增强通过此类切片和视图过程获得的数据，所述深度模糊减少算法配置成减少由分别由第一层和第二层外部的电子相互作用互产生的第一数据和第二数据的部分引起的深度模糊，以产生增强型第一数据和增强型第二数据。随后使用所述增强型第一数据和所述增强型第二数据产生所述样品的高分辨率3D重建。在一些实施例中，所述深度模糊减少算法可选自已针对某些显微镜条件、样品条件或其组合个别地配置的一组此类算法。

本发明授权用于带电粒子系统中样品的3D图像的深度重建在权利要求书中公布了：1.一种用于通过切片和视图带电粒子成像产生改进的样品3D重建的方法，所述方法包括：获取与样品的第一层相关的第一数据，所述第一数据已通过用带电粒子束对所述样品的所述第一层进行第一辐照而获取；获取与样品的第二层相关的第二数据，所述第二数据已通过用所述带电粒子束对所述样品的所述第二层进行第二辐照而获取，其中：在所述第一辐照与所述第二辐照之间去除所述样品的所述第一层；以及所述带电粒子束的电子相互作用深度大于所述第一层的厚度和所述第二层的厚度；用基于训练的3D盲反卷积算法增强所述第一数据以创建增强型第一数据，其中所述基于训练的3D盲反卷积算法减少由所述第一层外部的电子相互作用产生的所述第一数据的第一部分引起的深度模糊；用所述基于训练的3D盲反卷积算法增强所述第二数据以创建增强型第二数据，其中所述基于训练的3D盲反卷积算法减少由所述第二层外部的电子相互作用产生的所述第二数据的第二部分引起的深度模糊；以及使用所述增强型第一数据和所述增强型第二数据构建所述样品的高分辨率3D重建。

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