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龙图腾网恭喜悦芯科技股份有限公司申请的专利基于测试设备的存储芯片个性化修复方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119889414B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-06-03发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510376906.1，技术领域涉及：G11C29/44；该发明授权基于测试设备的存储芯片个性化修复方法是由潘志富;郭琦;薛如军;张悦;杨爱民;朱超设计研发完成，并于2025-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于测试设备的存储芯片个性化修复方法在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了基于测试设备的存储芯片个性化修复方法，包括：分别获取每颗存储芯片在CP前段测试阶段以及FT后段测试阶段的失效单元电路集合；分别构建失效单元电路集合对应的邻接矩阵，并计算并集，再进行分割得到数据特征集合；对数据特征集合进行聚类分析，提取失效单元分布衍化规则，构建衍化规则库；计算滑动窗口中的失效单元分布和衍化规则元矩阵之间的皮尔逊相关分析，得到衍化分析的失效单元，并将该失效单元加入稀疏失效单元集合中进行正常出解分析，根据芯片冗余资源是否满足预设出解条件判断芯片是否为良品。本发明能够一定程度解决不稳定稀疏单元的问题，增加存储芯片良率。

本发明授权基于测试设备的存储芯片个性化修复方法在权利要求书中公布了：1.基于测试设备的存储芯片个性化修复方法，其特征在于，包括以下步骤：失效单元提取：分别获取每颗存储芯片在CP前段测试阶段以及FT后段测试阶段的失效单元电路集合FCP和FFT；分别构建失效单元电路集合FCP和FFT对应的邻接矩阵和，计算，再按照存储芯片结构特点对矩阵ε进行分割得到数据特征集合；采用基于稀疏矩阵的谱聚类方法对数据特征集合进行聚类分析，提取失效单元分布衍化规则，构建衍化规则库，所述衍化规则库包括衍化规则元矩阵和衍化方向矩阵；失效单元分析：采用窗口滑动法，计算滑动窗口中的失效单元分布和衍化规则元矩阵之间的皮尔逊相关分析，若相关性达到预设阈值则执行衍化分析；根据衍化规则元矩阵和该窗口中所有失效单元分布，得到衍化分析的失效单元，并将该失效单元加入稀疏失效单元集合中；对所有稀疏失效单元集合进行正常出解分析，根据芯片冗余资源是否满足预设出解条件判断芯片是否为良品。

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