恭喜均豪精密工业股份有限公司李茂杉获国家专利权
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龙图腾网恭喜均豪精密工业股份有限公司申请的专利检测设备及其收光装置获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114252238B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202011014413.7,技术领域涉及:G01M11/02;该发明授权检测设备及其收光装置是由李茂杉;张伯墉;张凯宇设计研发完成,并于2020-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。
本检测设备及其收光装置在说明书摘要公布了:本发明公开一种检测设备及其收光装置,所述收光装置包含一远心透镜组、一图像处理模块、及一演算模块。所述远心透镜组包含有一入光端与一出光端,并用来引导多个发光芯片所发出且自所述入光端穿入其内的多道第一光线,自所述出光端穿出且形成较小发散角度的多道第二光线。所述图像处理模块设置于所述远心透镜组的所述出光端,用来接收并处理自所述出光端穿出的每道所述第二光线,以计算出相对应的所述发光芯片的RGB灰阶值。所述演算模块电性耦接于所述图像处理模块,用来接收每个所述发光芯片的所述RGB灰阶值并演算出每个发光芯片的光参数。据此,所述收光装置通过设置有所述远心透镜组,以得知每个所述发光芯片的光参数。
本发明授权检测设备及其收光装置在权利要求书中公布了:1.一种检测设备,其特征在于,所述检测设备包括:一电性检测装置,包含:一探针卡;一光学对位模块,其位置对应于所述探针卡;一透光载盘,其位置与所述探针卡相对应,并且所述透光载盘具有用来承载多个发光芯片的一承载面与位于所述承载面相反侧的一出光面;其中,所述探针卡能通过所述光学对位模块的对位后,而用来同时供电且电性检测所述透光载盘上的多个所述发光芯片,以使每个所述发光芯片朝向所述出光面发出具有第一发散角度的一第一光线;以及一收光装置,其邻近地设置于所述透光载盘的所述出光面,并且所述收光装置包含有:一远心透镜组,其包含有一入光端及一出光端;其中,所述远心透镜组用来引导由所述出光面穿出而自所述入光端穿入其内的多道所述第一光线,并使多道所述第一光线自所述出光端穿出且形成多道第二光线;其中,每道所述第二光线的第二发散角度小于相对应所述第一光线的所述第一发散角度;一图像处理模块,其设置于所述远心透镜组的所述出光端,用来接收并处理自所述出光端穿出的每道所述第二光线,以计算出相对应的所述发光芯片的RGB灰阶值;及一演算模块,其电性耦接于所述图像处理模块,用来接收每个所述发光芯片的所述RGB灰阶值并演算出每个所述发光芯片的光参数。
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