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龙图腾网恭喜广州计量检测技术研究院申请的专利一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112815831B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110188806.8，技术领域涉及：G01B9/02055；该发明授权一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法是由古耀达;吕雅琪;邝俊杰;杨昭信;魏纯;严杰文;马婷婷;谭梦蕾;劳超鸣;钟赖;黄锋设计研发完成，并于2021-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法，包括座体和基套；所述座体安装在基套上；所述座体包括光纤套筒和光纤；光纤套筒包裹在光纤的外侧面上；所述基套的上表面为测试表面，测试表面至少包括两芯以上的光纤特征面，光纤特征面具有多芯光纤台阶；所述光纤特征面的单个光纤顶部与纤芯拟合面的距离为对应纤芯下陷；所述光纤特征面单个光纤顶部与光纤套筒上端拟合面的距离为对应标注光纤高度。本发明提供的多芯光纤干涉校准标样能扩充标样范围和减少不同材料特性等引入测量不确定影响量，提高校准精度、有利于多芯光纤干涉仪多量值测量校准及功能扩展，结构紧凑、体积小、多量值，便于归一存放。

本发明授权一种多芯光纤干涉校准标样及校准多芯干涉仪的方法在权利要求书中公布了：1.一种多芯光纤干涉校准标样校准多芯干涉仪的方法，其特征在于，包括座体10和基套20；所述座体10安装在基套20上；所述座体10包括光纤套筒11和光纤12；光纤套筒11包裹在光纤12的外侧面上；所述基套20的上表面为测试表面，测试表面至少包括两芯以上的光纤特征面，光纤特征面具有多芯光纤台阶18；所述光纤特征面的单个光纤顶部与纤芯拟合面的距离为对应标准纤芯下陷15；所述光纤特征面单个光纤顶部与光纤套筒11上端拟合面的距离为对应标准光纤高度14；所述多芯光纤台阶18的高度为标准光纤高度14，光纤特征面的各个光纤均有对应标准光纤下陷，各阵列光纤平面的相互错开，并形成标准光纤高度差；所述基套20上设有标识21，所述标识21与光纤12的方向相对应，方便对形状拟合后标识截面数据的提取，用以获取标准高度和标准纤芯下陷指标；所述测试表面13包括第一级光纤面、第二级光纤面，第一级光纤面和第二级光纤面分别为拟合面；第一级光纤面为光纤端面131，第二级光纤面为套筒端面132，呈圆形的第一级光纤面、第二级光纤面，方便干涉仪条纹的收集；在二维校准时，通过接触扫描多芯光纤干涉校准标样表面形貌以获取标准光纤高度和标准纤芯下陷指标；在三维模式下，通过同时扫描光纤端面131和套筒端面132获得三维形貌后，再去除光纤端面131及粘合表面161形状，以获取标准光纤高度和标准纤芯下陷指标；多芯光纤表面的标准光纤高度覆盖0至10微米，光纤纤芯面的下陷标准值覆盖0至1微米；所述座体10还包括粘合区域16，该粘合区域16的上端面为粘合表面161；所述光纤套筒11通过粘合区域16包裹粘合在光纤12的外侧面上；在二维校准时，通过接触扫描多芯光纤干涉校准标样表面形貌获取标准光纤高度和标准纤芯下陷指标；在三维模式下，通过同时扫描光纤端面131和套筒端面132获得三维形貌后，再去除光纤表面131及粘合表面161形状，获取标准光纤高度和标准纤芯下陷指标；所述光纤套筒11由环氧树脂或硅制成；所述光纤12由二氧化硅或硅制成；多芯光纤干涉校准标样校准多芯干涉仪的方法包括：放入多芯光纤干涉校准标样，光束通过分光在测试表面上调整控制精密位移器，形成显微表面光学精密干涉，多芯干涉条纹通过探测传感器收集；通过条纹背景光强分布运算微表面干涉条纹逐点相位差与多芯光纤各特征面高度差进行逐一映射，处理后得到融合图像并通过微观三维重构测量法与标准量值对比校准；通过条纹背景光强分布运算干涉条纹相位差与多芯光纤各特征面纤芯下陷进行逐一映射，处理后得到融合图像并通过微观三维重构测量法与标准下陷量值对比校准；通过条纹背景光强分布运算微表面干涉条纹逐点相位差与多芯光纤各特征面的高度差进行逐一映射，处理后得到融合图像并通过微观三维重构测量法与多芯各阵列光纤高度差与标准光纤高度差量值对比校准，记录并分析，取出标样，完成多芯光纤干涉仪校准。

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