恭喜上海联影医疗科技股份有限公司陈伟梁获国家专利权
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龙图腾网恭喜上海联影医疗科技股份有限公司申请的专利涡流校正方法、磁共振图像校正方法、装置、设备和介质获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115436855B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202110615012.5,技术领域涉及:G01R33/56;该发明授权涡流校正方法、磁共振图像校正方法、装置、设备和介质是由陈伟梁;李博设计研发完成,并于2021-06-02向国家知识产权局提交的专利申请。
本涡流校正方法、磁共振图像校正方法、装置、设备和介质在说明书摘要公布了:本申请涉及一种涡流校正方法、磁共振图像校正方法、装置、计算机设备和存储介质。所述方法包括:获取第一梯度施加后采集的多个回波时间的第一磁共振信号和第二梯度施加后采集的多个回波时间的第二磁共振信号;根据各个回波时间的所述第一磁共振信号和所述第二磁共振信号,确定各个回波时间的两个磁共振图像,并确定各个回波时间的两个磁共振图像之间的相位差;根据各所述相位差,确定至少一个成像回波时间下的涡流场分布;利用所述成像回波时间下的涡流场分布对所述成像回波时间对应的磁共振信号进行涡流校正。采用本方法能够提高对磁共振涡流校正的准确性。
本发明授权涡流校正方法、磁共振图像校正方法、装置、设备和介质在权利要求书中公布了:1.一种涡流校正方法,其特征在于,所述方法包括:在第一梯度施加后,采用预扫描序列进行多层数据交叉采集,获得所述第一梯度施加后多个回波时间的第一磁共振信号;在第二梯度施加后,采用预扫描序列进行多层数据交叉采集,获得所述第二梯度施加后多个回波时间的第二磁共振信号;根据各个回波时间的所述第一磁共振信号和所述第二磁共振信号,确定各个回波时间的两个磁共振图像,并确定各个回波时间的两个磁共振图像之间的相位差;根据各所述相位差,确定至少一个成像回波时间下的涡流场分布;利用所述成像回波时间下的涡流场分布对所述成像回波时间对应的磁共振信号进行涡流校正。
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