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龙图腾网恭喜武汉英飞华科技有限公司申请的专利同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114061917B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111517446.8，技术领域涉及：G01M11/02；该发明授权同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪的方法是由何威威;张润;吕小威;李同宁;游毓麒设计研发完成，并于2021-12-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪的方法在说明书摘要公布了：本发明涉及超辐射发光二极管制造领域，且公开了一种同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪，包括同轴SLD自动耦合台机柜，所述同轴SLD自动耦合台机柜内部的底端设置有自动耦合台主机，所述自动耦合台主机上方的两侧皆安装有光功率计和光谱分析仪。该发明，通过当光谱数据不合格时，按设定步长，自动增加驱动电流，但不超过设定的管芯最大工作电流，直至两项均合格进入封焊程序，其中增加驱动电流当输出功率超出最大上限时，需自动降低耦合效率，直至两项均合格进入封焊程序，同轴SLD自动耦合台搭载光谱分析仪后实现输出光功率和光谱特性同步测试，同步筛选，提高生产效率，根据光谱数据执行补偿程序，提高产品合格率。

本发明授权同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪的方法在权利要求书中公布了：1.一种同轴超辐射发光二极管自动耦合台搭载光谱分析仪，包括同轴SLD自动耦合台机柜1，其特征在于：所述同轴SLD自动耦合台机柜1内部的底端设置有自动耦合台主机2，所述自动耦合台主机2上方的两侧皆安装有光功率计6和光谱分析仪5，所述光功率计6和光谱分析仪5上方的一侧设置有自动耦合操作台7，所述自动耦合操作台7的一侧安装有分光模块16，所述自动耦合操作台7内部的两侧皆设置有降温调节组件8，所述自动耦合操作台7上方一端的两侧皆安装有显示屏10，所述同轴SLD自动耦合台机柜1一侧的底端安装有三光束激光点焊机17，所述分光模块16皆通过单模光纤跳线13分别与光谱分析仪5和光功率计6电性连接，所述自动耦合台主机2内部底端的两侧分别安装主控制板3和PC连接端4，所述同轴超辐射发光二极管自动耦合包括以下工序，步骤一，将光谱分析仪5安装在同轴SLD自动耦合台机柜1中，置于自动耦合台主机2与自动耦合操作台7之间，与光功率计6安装在一起；步骤二，分光模块16置于自动耦合操作台7旁边，分光模块16由1只分光器和3只光法兰盘组成，分光器分光比例50％：50％，分光模块16的光法兰盘1内部接分光器输入端，外部接单模准直光纤14接头端，接头型号FCAPC，分光模块16的光法兰盘2、3内部分别接分光器的2路输出端，外部通过单模光纤跳线13分别接光功率计6和光谱分析仪5，不同波长的SLD器件耦合，对应更换不同波长的分光模块16和不同波长的单模光纤跳线13；步骤三，光功率计6和光谱分析仪5与自动耦合台主机2中的PC连接端，采用GPIB实时同步通讯，自动耦合操作台7在上位机软件控制下完成自动找光后，获取实时输出光功率，同步扫描输出光谱，获取光谱数据，判断光谱特性是否合格，当光功率和光谱数据均合格时，进入封焊程序，自动开启三光束激光点焊机17完成封焊；步骤四，当其中一项不合格时，进入补偿程序，功率不合格时，按设定步长，自动增加驱动电流，但不超过设定的管芯最大工作电流，直至两项均合格进入封焊程序；当光谱数据不合格时，按设定步长，自动增加驱动电流，但不超过设定的管芯最大工作电流，直至两项均合格进入封焊程序，其中增加驱动电流当输出功率超出最大上限时，需自动降低耦合效率，直至两项均合格进入封焊程序；当执行补偿程序仍不合格时，执行材料回收程序，不封焊，将材料退出回收。

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