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龙图腾网恭喜中控技术股份有限公司申请的专利测试方法、装置、存储介质以及处理器获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114328261B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111679938.7，技术领域涉及：G06F11/362；该发明授权测试方法、装置、存储介质以及处理器是由郑志方;陈耀方;赵丽莉;谷双平设计研发完成，并于2021-12-31向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试方法、装置、存储介质以及处理器在说明书摘要公布了：本申请公开了一种测试方法、装置、存储介质以及处理器。其中，该方法包括：读取测试用例，其中，测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及目标控制模式下的期望区间，期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；将测试用例所指示的输入参数写入至PID功能块，得到输出结结果；判断输出结果是否属于期望值区间，得到判断结果，其中，输出结果包括：测量值与反馈值；根据判断结果确定PID功能块是否通过测试。本申请解决了由于相关技术中需要手动构建测试用例对PID功能块进行测试，并通过直观感觉判断输出结果造成的测试效率低下，测试结果不准确的技术问题。

本发明授权测试方法、装置、存储介质以及处理器在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，其特征在于，所述测试方法应用于比例积分微分PID功能块中，包括：读取测试用例，其中，所述测试用例至少包括：目标控制模式对应的输入参数，以及所述目标控制模式下的期望区间，所述期望区间包括：测量期望值的第一区间与反馈期望值的第二区间；将所述测试用例所指示的所述输入参数写入至所述PID功能块，得到输出结果；判断所述输出结果是否属于所述期望值区间，得到判断结果，包括：获取各个预定时刻对应的所述第一区间与所述第二区间；判断所述各个预定时刻的测量值是否属于所述第一区间，得到第一子判断结果；判断所述各个预定时刻的反馈值是否属于所述第二区间，得到第二子判断结果，其中，所述输出结果包括：测量值与反馈值；根据所述判断结果确定所述PID功能块是否通过测试。

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