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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115219031B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210817207.2，技术领域涉及：G01J3/45；该发明授权微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法是由吕金光;梁静秋;赵百轩;赵莹泽;郑凯丰;陶金;王惟彪;秦余欣设计研发完成，并于2022-07-12向国家知识产权局提交的专利申请。

本微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法，其中的光谱仪包括：光源系统、光程延迟装置、数字微镜阵列和探测器系统；光源系统用于发出一束平行光束，平行光束经过光程延迟装置的分布式相位调制后得到由N×N个光场单元组成的光场阵列，数字微镜阵列用于对光场阵列进行选通，使至少两个光场单元对应的至少两束光束入射至探测器系统中发生干涉，得到干涉图信号，获取平行光束的光谱信息。本发明实现了光程差的精确调制与干涉信号的精确采样。回避了扫描动镜的制作和控制困难的问题，降低了系统的体积和重量，同时提高了系统的能量利用率。

本发明授权微型傅里叶变换光谱仪及其测量方法在权利要求书中公布了：1.一种微型傅里叶变换光谱仪，其特征在于，包括：光源系统、光程延迟装置、数字微镜阵列和探测器系统；所述光源系统用于发出一束平行光束，所述平行光束经过所述光程延迟装置的分布式相位调制后得到由N×N个光场单元组成的光场阵列，所述数字微镜阵列用于对所述光场阵列进行选通，使至少两个光场单元所对应的至少两束光束入射至所述探测器系统中发生干涉，得到干涉图信号，获取所述平行光束的光谱信息；所述光源系统包括：光源和准直镜；光源用于发出发散光束，所述发散光束经过所述准直镜的准直后形成平行光束，所述平行光束入射至光程延迟装置；所述光程延迟装置包括：纵向光程延迟装置和横向光程延迟装置；所述纵向光程延迟装置包括纵向阶梯微镜和纵向阶梯补偿镜；所述纵向阶梯微镜和所述纵向阶梯补偿镜在所述平行光束的传播方向上镜像对称；所述平行光束首先入射至纵向阶梯微镜中，依次经过所述纵向阶梯微镜和所述纵向阶梯补偿镜的反射后入射至所述横向光程延迟装置；所述纵向阶梯微镜用于对所述平行光束进行水平方向上的分布式相位调制，所述纵向阶梯补偿镜用于补偿所述纵向阶梯微镜引起的光束横移；所述横向光程延迟装置包括横向阶梯微镜和横向阶梯补偿镜；所述横向阶梯微镜和所述横向阶梯补偿镜在所述平行光束的传播方向上镜像对称；所述纵向阶梯补偿镜与所述横向阶梯微镜互相平行；所述平行光束首先入射至横向阶梯微镜中，依次经过所述横向阶梯微镜和所述横向阶梯补偿镜的反射后入射至所述数字微镜阵列；所述横向阶梯微镜用于对所述平行光束进行垂直方向上的分布式相位调制，所述横向阶梯补偿镜用于补偿所述横向阶梯微镜引起的光束横移。

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