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龙图腾网恭喜华南理工大学申请的专利一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115358106B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210838651.2，技术领域涉及：G06F30/23；该发明授权一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法是由沈文浩;许洁;刘寅;王益设计研发完成，并于2022-07-18向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法，过程如下：采用X射线断层扫描仪无损化扫描纸张，获取纸张三维结构序列图；使用数字图像后处理技术对原始扫描序列图进行对比度调节、滤波处理和图像分割；利用三维可视化软件构建纸张的三维孔隙结构，并以纸张的孔隙率作为估算表征单元REV尺寸的依据，确定适用于渗透模拟的REV尺寸大小；在构建的REV三维孔隙结构模型中，利用数值模拟软件对流体在纸张内部的渗透过程进行数值模拟，根据达西定律预测纸张绝对渗透率。本发明克服了传统方法测量纸张绝对渗透率操作复杂、不安全、无法观测到流体在纸张孔隙结构中具体的流动情况流速分布、压力分布、流体路径等的缺点。

本发明授权一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法在权利要求书中公布了：1.一种基于X射线断层扫描的纸张绝对渗透率预测方法，其特征在于，所述纸张绝对渗透率预测方法包括以下步骤：S1、制备浆料、抄造纸张；S2、将纸张裁剪成0.5mm×0.5mm-4mm×4mm大小的正方形，然后固定于X射线断层扫描仪的载物台上，采用X射线断层扫描仪表征纸张的微观三维结构，获取纸张三维结构的序列图像；S3、对纸张三维结构的序列图像依次进行对比度调节、滤波和图像分割，得到优化后的二维纸张截面序列图；S4、在三维可视化软件中对所述二维纸张截面序列图进行重建，构建纸张微观三维结构；S5、以纸张的孔隙率作为估算表征单元REV尺寸的依据，确定适用于渗透性能数值模拟的表征单元REV尺寸；S6、把表征单元REV的孔隙部分进行单独提取得到纸张REV三维孔隙结构模型，并对该纸张REV三维孔隙结构模型进行Delaunay三角网格剖分，转化为离散的有限元体网格模型；S7、在有限元体网格模型中，利用数值模拟软件对流体在纸张内部的渗透过程进行数值模拟；S8、基于步骤S7中得到的纸张渗透数值模拟结果，依据达西定律计算纸张REV三维孔隙结构模型的绝对渗透率，完成纸张绝对渗透率的预测。

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