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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115628763B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211094929.6，技术领域涉及：G01D5/347；该发明授权一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法是由韩庆阳设计研发完成，并于2022-09-05向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法在说明书摘要公布了：一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法涉及光电编码器技术领域，解决了现有抗污渍方法对密封和使用环境要求严苛，一旦码盘被污染编码器将无法使用的缺点的问题，方法包括：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值。本发明无需对其码盘密封进行加固，大幅度的降低对使用环境的要求，提高了环境适应力，提高编码器的测量精度和可靠性。

本发明授权一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法在权利要求书中公布了：1.一种准绝对式光电编码器的抗污渍测量方法，其特征在于，包括如下步骤：第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头进行角度测量得到测量角度，并将测量到的测量角度发送至总处理器；所述第1测量探头、第2测量探头和第3测量探头这三个测量探头之间互相独立工作，每个测量探头都能完成角度测量得到测量角度；总处理器根据至少两个未经过被污染的码盘区的测量探头的测量角度得出融合后的角度值；所述第1测量探头、第2测量探头、第3测量探头沿逆时针方向顺次设置，第1测量探头和第2测量探头沿逆时针方向相隔角α，第2测量探头逆时针旋转α角与第1探头重合，第3测量探头和第1测量探头沿逆时针方向相隔角β，第3测量探头逆时针旋转β角与第1探头重合；所述总处理器根据测量角度得到融合后的角度值的公式为： γ1、γ2和γ3中至多有一个等于0 其中，Angle1为第1测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle2为第2测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle3为第3测量探头进行角度测量得到测量角度，Angle为融合后的角度值。

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