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龙图腾网恭喜电子科技大学申请的专利一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115563750B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211125483.9，技术领域涉及：G06F30/20；该发明授权一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法是由冉曦;王晓华设计研发完成，并于2022-09-13向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法，属于天线通信技术领域。本发明所述方法包括以下步骤：初始化：设定散射体位置，根据设定的性能指标确定对应的远区期望散射场；正过程：基于背景介电常数分布函数更新散射体内的总场与源点到远区场点的格林函数；逆过程：将远区期望散射场、散射体内的总场与源点到远区场点的格林函数代入电磁逆散射方法的积分方程中，求得散射体内的介电常数分布函数；评估：若当前性能指标与设定的性能指标相符则判定为期望解，否则再次执行本方法直至符合。本发明所述方法不依赖已有的先验知识，具有更高的效率，可以弥补正向设计方法中的不足；相比于现有的逆方法效率更高，更灵活。

本发明授权一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法在权利要求书中公布了：1.一种用于实现天线任意辐射方向图的逆设计方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、初始化人工设定散射体位置S'，散射体位置S'位于辐射天线的近场区域；根据设定的性能指标确定对应的远区期望散射场S2、正过程散射体在辐射天线的照射下等效为二次源，将散射体划分为若干个网格，得到若干个散射体源点r′；基于当前的背景介电常数分布函数更新散射体位置S'内的总场更新散射体源点r′到远区场点的格林函数其中x′,y′为散射体位置S'划分网格的二维坐标；S3、逆过程将远区期望散射场散射体位置S'内的总场和散射体源点r′到远区场点的格林函数代入电磁逆散射积分方程，得到散射体位置S'内的介电常数分布函数εrx′,y′；S4、评估基于辐射天线、散射体位置S'及对应的介电常数分布函数εrx′,y′得到当前的性能指标和远区总场判断当前的性能指标是否收敛，若是，则判定当前的介电常数分布函数εrx′,y′为期望解，当前的介电常数分布函数εrx′,y′对应的结构作为散射体位置S'的结构；否则，令介电常数分布函数εrx′,y′为背景介电常数分布函数执行S1-S4，直至收敛。

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