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龙图腾网恭喜上海机电工程研究所申请的专利实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115562066B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211151112.8，技术领域涉及：G05B17/02；该发明授权实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法及系统是由李凡;王丙乾;张小威;朱迪;柴娟芳;杨扬;田义;佘少波;沈涛设计研发完成，并于2022-09-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法及系统在说明书摘要公布了：本发明提供了一种实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法，包括：获取电阻阵响应特性信息，并在实测图像数据中提取有效数据；针对电阻阵视场及分辨率对所述有效数据进行转换；根据所述电阻阵响应特性信息对实测数据灰度分布进行非线性映射后，将转换后的有效数据注入电阻阵；待测试产品在所述电阻阵中采集转换后的有效数据并进行仿真测试。本发明将实测图像数据注入电阻阵目标模拟系统，对红外制导系统的性能进行测试，可在实验室内复现外场试验全过程，供被试产品查找问题开展测试，帮助技术人员查找和定位被试产品出现的问题。

本发明授权实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种实测图像数据注入电阻阵的图像仿真方法，其特征在于，包括：步骤S1：获取电阻阵响应特性信息，并在实测图像数据中提取有效数据；步骤S2：针对电阻阵视场及分辨率对所述有效数据进行转换；步骤S3：根据所述电阻阵响应特性信息对转换后的有效数据灰度分布进行非线性映射后，并将映射后的有效数据注入电阻阵；步骤S4：待测试产品在所述电阻阵中采集映射后的有效数据并进行仿真测试；所述步骤S3包括：步骤S3.1：在外场采集实测数据中的图像序列T′listi,j，查询所述图像序列中的最小灰度值，计算公式如下：T′min＝minTlist′i，j|i＝1,2,...k；j＝1,2，...l其中，T′min表示实测数据图像序列中的最小灰度值，list为图像序列的序号数字，T′listi,j表示第list序列图像中的第i行和第j列的灰度值；k、l分别表示电阻阵目标模拟系统仿真数据的水平像素大小、垂直像素大小；步骤S3.2：查询映射后电阻阵的输入图像序列Mlisti,j的最小值Mmin，计算公式如下： 其中，Mmin表示映射后电阻阵的输入图像序列的最小值，Tmin表示产品响应的最小值；Mlisti,j表示第list序号图像中的第i行和第j列对应电阻阵输入值；步骤S3.3：计算外场采集实测数据中的图像序列中每一幅图像中每个像素值与T′min的差，计算公式如下：ΔT′listi,j＝T′listi,j-T′min其中，ΔT′listi,j表示外场采集实测数据中的图像序列的每一幅图像中每个像素值与T′min的差；步骤S3.4：令ΔMlisti,j＝ΔT′listi,j，根据下述计算公式进行映射，得到电阻阵的输入图像序列为： 其中，ΔMlisti,j为电阻阵输入图像序列的每一幅图像中每个像素值与Mmin的差值；步骤S3.5：判断外场采集实测数据中转换后的图像数据分辨率为k×l的图像序列中每一个像素值是否均遍历完成，若是，则完成映射；若否，则触发步骤S3.3。

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