恭喜中国电子科技集团公司第五十四研究所高扬获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国电子科技集团公司第五十四研究所申请的专利一种曲面结构空间位姿测量方法及测量用公共点装置获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115615325B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211290484.9，技术领域涉及：G01B11/00；该发明授权一种曲面结构空间位姿测量方法及测量用公共点装置是由高扬;赵晓阳;李建军;张万才;曹雪刚;李晓雅;梁谦设计研发完成，并于2022-10-21向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种曲面结构空间位姿测量方法及测量用公共点装置在说明书摘要公布了：本发明公开了一种曲面结构空间位姿测量方法及测量用公共点装置，属于工业测量技术领域。该装置用于全站仪和摄影测量的坐标转换，公共点装置外形为长方体结构，其背部设置有用于与被测量曲面结构连接的安装结构；公共点装置的顶部设置有反射片安装位置，反射片包括摄影测量反射片和全站仪测量反射片。本发明使用了摄影测量系统与全站仪相结合的技术，采用高精度的公共点装置作为过渡基准，仅通过一次公共点转换，实现摄影测量坐标系向全站仪坐标系的高精度高效转换。解决了曲面结构通过摄影测量后难以关联外部坐标系的难题。
本发明授权一种曲面结构空间位姿测量方法及测量用公共点装置在权利要求书中公布了：1.一种曲面结构空间位姿测量用公共点装置，其特征在于，该装置用于全站仪和摄影测量的坐标转换，所述公共点装置外形为长方体结构，其背部设置有用于与被测量曲面结构连接的安装结构；所述公共点装置的顶部设置有反射片安装位置，所述反射片包括摄影测量反射片和全站仪测量反射片；所述反射片安装位置均为田字格结构，所述田字格结构通过数控机械刻线方式刻在公共点装置的顶部；所述的田字格结构的数量为三个，田字格结构的中心位置位于一条直线上，且间距相等；位于中间位置的田字格用于安装全站仪测量用反射片，两侧的田字格结构用于安装摄影测量用反射片。
如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子科技集团公司第五十四研究所，其通讯地址为：050081 河北省石家庄市桥西区中山西路589号天伺；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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