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龙图腾网恭喜江西联创光电超导应用有限公司;北京交通大学申请的专利一种高温超导磁体综合性能分析系统及方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119439003B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510038337.X，技术领域涉及：G01R33/00；该发明授权一种高温超导磁体综合性能分析系统及方法是由伍宇扬;伍锐;戴少涛;胡磊;马韬;王邦柱;杨俊峰;陈德财设计研发完成，并于2025-01-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种高温超导磁体综合性能分析系统及方法在说明书摘要公布了：本发明涉及高温超导磁体技术领域，公开了一种高温超导磁体综合性能分析系统及方法，数据测试模块施加不同的施加测试数据，获取测试响应数据；第一构建模块根据测试响应数据构建测试响应数据链；第一计算模块根据测试响应数据和标准响应数据得到测试响应数据集合，计算测试性能分析系数；第二构建模块根据施加测试数据构建施加测试数据链；第二计算模块计算测试性能分析影响系数；性能分析模块根据测试性能分析系数和测试性能分析影响系数计算综合测试性能分析系数，判断是否满足生产需求，对高温超导磁体进行两个方面的综合性能分析，避免综合性能分析结果的片面性，保证综合性能分析精准度和效率，保证高温超导磁体的生产质量以及使用性能。

本发明授权一种高温超导磁体综合性能分析系统及方法在权利要求书中公布了：1.一种高温超导磁体综合性能分析系统，其特征在于，包括：数据测试模块，用于确定待分析高温超导磁体，对所述待分析高温超导磁体施加不同的施加测试数据，并获取所述待分析高温超导磁体对应的多个测试响应数据，其中，所述施加测试数据与所述测试响应数据相互对应；第一构建模块，用于对所有的测试响应数据进行同类型数据分析，并根据同一类型的所有测试响应数据构建测试响应数据链；第一计算模块，用于获取与所述待分析高温超导磁体对应的标准响应数据，根据所述测试响应数据和所述标准响应数据之间的关系，将所述测试响应数据链划分为不同的测试响应数据集合，并根据测试响应数据集合计算所述待分析高温超导磁体的测试性能分析系数；第二构建模块，用于对每次施加的施加测试数据进行同类型数据分析，并根据同一类型的所有施加测试数据构建施加测试数据链；第二计算模块，用于确定所述施加测试数据链上的最大施加测试数据和最小施加测试数据，根据所述最大施加测试数据和所述最小施加测试数据对所述施加测试数据链进行分析，并基于分析结果计算所述待分析高温超导磁体的测试性能分析影响系数；性能分析模块，用于根据所述测试性能分析系数和所述测试性能分析影响系数计算所述待分析高温超导磁体的综合测试性能分析系数，并基于所述综合测试性能分析系数判断所述待分析高温超导磁体是否满足生产需求；所述第一计算模块用于随机抽取一条测试响应数据链，并将抽取的测试响应数据链上的测试响应数据和对应的标准响应数据进行对比，若所述测试响应数据小于所述标准响应数据，则将所述测试响应数据划分至低测试响应数据集合；所述第一计算模块用于若所述测试响应数据等于所述标准响应数据，则将所述测试响应数据划分至等测试响应数据集合；所述第一计算模块用于若所述测试响应数据大于所述标准响应数据，则将所述测试响应数据划分至高测试响应数据集合；所述第一计算模块用于计算所述低测试响应数据集合的低均值和低标准差，计算所述低均值和所述低标准差的和值，并作为低和值；所述第一计算模块用于计算所述低均值和所述低标准差的差值绝对值，并作为低差值；所述第一计算模块用于根据所述低和值和所述低差值确定第一数据范围，提取所述低测试响应数据集合中所有处于所述第一数据范围内的测试响应数据，并构建第一子集合；所述第一计算模块用于计算所述等测试响应数据集合的等均值和等标准差，计算所述等均值和所述等标准差的和值，并作为等和值；所述第一计算模块用于计算所述等均值和所述等标准差的差值绝对值，并作为等差值；所述第一计算模块用于根据所述等和值和所述等差值确定第二数据范围，提取所述等测试响应数据集合中所有处于所述第二数据范围内的测试响应数据，并构建第二子集合；所述第一计算模块用于计算所述高测试响应数据集合的高均值和高标准差，计算所述高均值和所述高标准差的和值，并作为高和值；所述第一计算模块用于计算所述高均值和所述高标准差的差值绝对值，并作为高差值；所述第一计算模块用于根据所述高和值和所述高差值确定第三数据范围，提取所述高测试响应数据集合中所有处于所述第三数据范围内的测试响应数据，并构建第三子集合；所述第一计算模块用于根据所述第一子集合、所述第二子集合和所述第三子集合计算所述测试响应数据链的子测试性能分析系数；所述第一计算模块用于计算剩余测试响应数据链的子测试性能分析系数，并根据所有的子测试性能分析系数计算所述待分析高温超导磁体的测试性能分析系数；所述第一计算模块用于根据下式计算所述测试响应数据链的子测试性能分析系数： ；其中，a1为测试响应数据链的子测试性能分析系数，e1为第一子集合对应的计算系数，n1为第一子集合中测试响应数据的数量，gi为第一子集合中第i个测试响应数据，f1为低和值，f2为低差值，e2为第三子集合对应的计算系数，n2为第三子集合中测试响应数据的数量，hj为第三子集合中第j个测试响应数据，f3为高和值，f4为高差值，e1+e2=3，且e1＞e2，c为子测试性能分析系数的计算调整因子。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人江西联创光电超导应用有限公司;北京交通大学，其通讯地址为：330000 江西省南昌市南昌高新技术产业开发区京东大道168号科技大楼107号一、二楼；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。