买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜华南师范大学申请的专利根据荧光探针自动E-FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119470381B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510059825.9，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权根据荧光探针自动E-FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统是由庄正飞;王健;王正印;胡敏;陈同生设计研发完成，并于2025-01-15向国家知识产权局提交的专利申请。

本根据荧光探针自动E-FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统在说明书摘要公布了：本发明涉及一种根据荧光探针自动E‑FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统，其应用于多通道荧光显微成像系统，其通过录入成像系统、荧光探针的相关信息，根据荧光探针和成像系统的光学特性进行自动成像匹配，并将能够成像的荧光探针两两组合成供体‑受体对然后进行初步FRET成像筛选，对于初步筛选出的供体‑受体对，由用户提供样本进行成像实验，并以此进行FRET效应判断和E‑FRET参数校正，对确定能够发生FRET效应的供体‑受体对，自动生成对应的E‑FRET拍摄流程并保存；当用户选择已保存的供体‑受体对并提供实验样本进行实验时，控制成像系统执行与供体‑受体对对应的E‑FRET拍摄流程对实验样本进行成像实验，并利用E‑FRET参数校正的结果计算E‑FRET结果。

本发明授权根据荧光探针自动E-FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统在权利要求书中公布了：1.一种根据荧光探针自动E-FRET成像的多通道荧光显微成像控制系统，其应用于多通道荧光显微成像系统，其特征在于，包括：系统参数录入软件模块：确定用于与所述成像系统内各电动控件建立连接所需的相关信息并录入所述成像系统中各光学元件的光学特性参数；荧光探针信息录入软件模块：录入所述荧光探针的光学特性参数；成像匹配软件模块：根据所述荧光探针和所述成像系统的光学特性进行自动成像匹配，并保存所述荧光探针的成像设置；初步FRET成像筛选软件模块：对于能够成像的所述荧光探针，两两组合成供体-受体对然后进行初步FRET成像筛选；FRET效应判断和E-FRET参数校正软件模块：对于初步筛选出的供体-受体对，生成标准E-FRET成像设置，然后按照所述标准E-FRET成像设置控制所述成像系统对用户提供的标准样本分别进行成像实验，并以此进行FRET效应判断和E-FRET参数校正，对确定能够发生FRET效应的供体-受体对，自动生成对应的E-FRET拍摄流程并保存；所述标准样本包括单转供体样本、单转受体样本和同时包含供体和受体的样本；E-FRET成像执行软件模块：当用户选择已保存的供体-受体对并提供实验样本进行实验时，控制所述成像系统执行与所述供体-受体对对应的E-FRET拍摄流程对所述实验样本进行成像实验，并利用E-FRET参数校正的结果计算E-FRET结果；进行初步FRET成像筛选的方式如下：1根据所述荧光探针吸收光谱的归一化光谱特性ABnλn,ab，计算其吸收光谱的总面积根据其发射光谱的归一化光谱特性EMnλn,em，以及所述成像设置中记载的探测通道的波长通带λm,BP,DC，计算其发射光谱的总面积和能够探测到的波段占发射光谱的总面积2若供体-受体对满足以下两个条件，即认为该对荧光探针为可能的FRET对：①对于供体与受体，均需满足能够探测到的波段占发射光谱的总面积与完整发射光谱总面积的比大于等于阈值TH3，即 阈值TH3根据经验设定，用于确保荧光探针的发射光能被成像系统检测到，即界定荧光探针在成像系统中能否被照亮；②对于受体，需满足其吸收光谱与供体发射光谱的重叠部分的面积与供体发射光谱总面积的比值，以及其吸收光谱与供体发射光谱的重叠部分的面积与受体吸收光谱的总面积的比值，均大于等于阈值TH4，即 阈值TH4取0.3。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人华南师范大学，其通讯地址为：510006 广东省广州市天河区石牌中山大道西55号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。