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龙图腾网恭喜北京中仪智控科技有限公司申请的专利一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119579590B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510131413.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质是由李勇设计研发完成，并于2025-02-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本发明实施例公开了一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质，涉及图像处理技术领域。其中，方法包括：获取未染色大米的外表面图像，所述外表面图像包括正面图像和或其它表面图像；利用图像分割算法，对所述外表面图像中的种皮区域、胚乳区域和大米完整区域进行分割；利用所述种皮区域、胚乳区域和大米完整区域的面积，确定大米加工精度。本实施例提出一种无需染色的大米加工精度检测方法。

本发明授权一种大米加工精度检测方法、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种大米加工精度检测方法，其特征在于，包括：获取未染色大米的外表面图像，所述外表面图像包括正面图像和其它表面图像，所述正面图像包括上表面图像和或下表面图像，所述其它表面图像包括侧面图像；利用图像分割算法，对所述外表面图像中的种皮区域、胚乳区域和大米完整区域进行分割；利用特征点检测算法，提取所述正面图像与侧面图像间纹理结构匹配的特征点，这些匹配成功的特征点是正面图像与侧面图像间的重复区域中的点；对所述正面图像和侧面图像分别进行轮廓检测，并将两图像的大米轮廓分别拟合为两个第一椭圆；针对所述侧面图像的第一椭圆，在更靠近所述正面图像所示的大米正面一侧的椭圆边界上，确定与各匹配特征点沿所述第一椭圆短轴方向坐标相同的边界点；确定每一对沿所述第一椭圆短轴方向坐标相同的匹配特征点和边界点的中心点，并取距离所述大米正面最远的中心点；以过所述最远的中心点且平行于所述椭圆长轴的直线为长轴方向，以所述第一椭圆的短轴直线为短轴方向，拟合一个与所述第一椭圆具有相同长轴长度，且以所述最远的中心点对应的匹配特征点为边界点的第二椭圆；将所述第二椭圆作为所述正面图像与侧面图像的重复区域；去除所述种皮区域、胚乳区域和大米完整区域中与所述重复区域相交的部分，利用剩余部分的面积确定大米加工精度，其中，所述加工精度为留皮度。

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