恭喜深圳市建滔科技有限公司涂春光获国家专利权
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龙图腾网恭喜深圳市建滔科技有限公司申请的专利一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN119596120B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202510143938.7,技术领域涉及:G01R31/28;该发明授权一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法是由涂春光;涂曙光;王佰亮;方辉设计研发完成,并于2025-02-10向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法,涉及电路板测试技术领域,包括:获取分析元件库中;使用多功能分析方法获取多极端测试区间;获取待评估项目;基于待评估项目对电路板中的功能进行分析,并基于分析结果对测试数据进行评估;本发明用于解决现有的用于电路板的测试数据评估分析中,当电路板中因电子元件的影响导致测试结果存在异常时,无法基于测试数据的分析结果获取造成异常测试结果的电子元件,进而造成无法基于测试结果对电路板的电子元件进行及时修正,影响受损电路板的修复效率的问题。
本发明授权一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法在权利要求书中公布了:1.一种用于PCBA电路板的测试数据评估分析方法,其特征在于,包括如下步骤:获取安装在电路板上的所有电子元件的类型,并存入分析元件库中;使用多功能分析方法对分析元件库中的电子元件进行分析,并分别获取电子元件的多极端测试区间;对于任意一个测试项目,在同一个数轴中标记测试项目所在行中所有的正常测试区间,并将此时的数轴记为标准筛选轴;将标准筛选轴中同时存在于所有正常测试区间的参数区间记为多测试区间;将最大的多测试区间记为电子元件DYc的多极端测试区间;获取电子元件的所有测试数据,并基于多极端测试区间对测试数据进行筛选,基于筛选结果获取待评估项目;对于电路板中能够实现的任意一个功能,将功能对应的所有电子元件记为功能元件,基于功能元件的待评估项目对电路板中的功能进行全元件数据分析以及部分元件数据分析,并基于分析结果对测试数据进行评估。
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