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龙图腾网恭喜深圳市源建传感科技有限公司申请的专利一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119666932B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-30发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510179937.8，技术领域涉及：G01N27/00；该发明授权一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法是由倪思远设计研发完成，并于2025-02-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法，属于气体检测技术领域，具体包括：获取当传感器线性度大于设定标准时的工作温度区间[A,B]，并在测试环境中设置若干个测试温度来实时采集传感器的内部温度，对于每个测试温度，如果它小于A，则控制可调电压输出电路对传感器进行加热；如果它大于B，则控制可调电压输出电路对传感器进行降温。在任一测试温度下，绘制传感器内部温度随时间变化的曲线，并计算该测试温度对应的温度变化速度；然后根据温度变化速度计算对应的平衡工作电压，并将其作为可调电压输出电路在该测试温度下的工作电压；本发明实现了对气体传感器在不同场景下的针对性优化。

本发明授权一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法在权利要求书中公布了：1.一种用于半导体气体传感器的线性度优化测试方法，其特征在于，包括以下步骤：获取当传感器线性度大于设定标准时的工作温度区间[A,B]，设置n个测试温度T，n为预设值，所述测试温度不在所述工作温度区间内，在任一测试温度下，实时采集传感器的内部温度t；对于第i个测试温度Ti，i∈[1,n]，若该测试温度小于区间温度A，则控制可调电压输出电路对传感器进行加热，当内部温度t达到A时，暂停加热，等待设定时长后继续对传感器进行加热，当内部温度达到B时，停止加热；若该测试温度大于B，则控制可调电压输出电路对传感器进行降温，当内部温度t达到B时，暂停降温，等待设定时长后继续对传感器进行降温，当内部温度达到A时，停止降温；绘制传感器内部温度随时间变化的曲线，分别获取内部温度t经过A坐标点和B坐标点时的斜率k1和k2，将斜率转换为对应的温度变化速度v1和v2，根据温度变化速度计算可调电压输出电路的平衡工作电压U1和U2，计算公式为： ；；其中，温度变化速度的单位为开氏度每秒，ω为预设修正系数，c为半导体材料的比热容，m为半导体材料的质量，R为半导体材料当前温度下的电阻值；则对于第i个测试温度Ti，当该测试温度小于区间温度A时，可调电压输出电路的工作电压区间为[U1，U2]；当该测试温度大于区间温度B时，可调电压输出电路的工作电压区间为[U2，U1]；当测试温度处于[A,B]内时，则不对半导体内部温度进行采集，可调电压输出电路停止工作；所述斜率的获取过程为：标记当传感器内部温度为A或B时的时间坐标，当可调电压输出电路暂停加热或降温后，监测传感器内部温度t随时间变化的曲线，当传感器内部温度达到A-a或B-b时，a和b为测试温度阈值，获取此时的时间坐标，将A坐标点与A-a坐标点之间连线的斜率标记为k1，将B坐标点与B-b坐标点之间连线的斜率标记为k2。

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