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龙图腾网恭喜深圳市立能威微电子有限公司申请的专利一种芯片的检测组件获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN116511099B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202310506470.4，技术领域涉及：B07C5/344；该发明授权一种芯片的检测组件是由艾育林;林延海设计研发完成，并于2022-08-29向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种芯片的检测组件在说明书摘要公布了：本发明涉及芯片分选检测设备技术领域，提出了一种芯片的检测组件，所述检测组件包括升降设置在所述机架上的检测托架及设置在所述检测托架上的检测头，所述检测头具有与待检测芯片接触的探针，还包括设置在所述检测头中心的吸附嘴及套设在所述探针上的绝缘套管，所述吸附嘴升降设置在所述检测头中心。通过上述技术方案，解决了现有技术中芯片分选检测过程中引脚之间发生放电造成减损、安全性不稳定的问题。

本发明授权一种芯片的检测组件在权利要求书中公布了：1.一种芯片的检测组件，其特征在于，所述检测组件包括检测托架（3）及设置在所述检测托架（3）上的检测头（4），所述检测头（4）具有与待检测芯片接触的探针（5），还包括设置在所述检测头（4）中心的吸附嘴（6）及套设在所述探针（5）上的绝缘套管（7），所述吸附嘴（6）升降设置在所述检测头（4）中心，还包括托盘吸头（8）、修正工位（9）及修正组件，所述托盘吸头（8）升降设置在所述检测托架（3）上，所述修正工位（9）用于放置芯片托盘，所述修正组件包括升降设置在机架（1）上的修正托架（10）及设置在所述修正托架（10）上的支撑框（11），所述支撑框（11）内设置有针脚套筒（12），所述针脚套筒（12）活动设置在所述支撑框（11）内，还包括修正压块（13），所述修正压块（13）升降设置在所述修正托架（10）上，所述修正压块（13）具有修正孔（14），所述针脚套筒（12）的一端与所述修正孔（14）对应，还包括支撑杆（15），所述支撑杆（15）设置在所述支撑框（11）内，所述支撑杆（15）至少为两根，所述针脚套筒（12）与所述修正孔（14）均为若干根，所述针脚套筒（12）的中部与所述支撑杆（15）球铰接，所述针脚套筒（12）远离所述修正压块（13）的一端为锥形口，所述修正孔（14）靠近针脚套筒（12）的一端为锥形孔，所述针脚套筒（12）靠近所述修正孔（14）的一端与所述修正孔（14）的内径相同。

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