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龙图腾网恭喜电子科技大学申请的专利一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115561530B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211403448.9，技术领域涉及：G01R29/10；该发明授权一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法是由张瑛;胡亚捷;丁汀;高家鹏;梁博轩;文雨农设计研发完成，并于2022-11-10向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法在说明书摘要公布了：本发明属于天线阵列技术领域，具体涉及一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法。数据处理阶段，在远场区域上测量多个方向的远场辐射数据，生成功率信息，利用容差分析对测量得到的功率方向图做预处理，得到考虑阵元位置误差下的功率方向图的上下界，由此扩展数据集。在训练阶段，完成对故障诊断模型的训练，将扩展后的数据集作为神经网络的输入，将失效阵元的位置和数目设置为输出，训练两个神经网络。在应用阶段，在训练阶段测量数据的相同方向上采集数据，将得到的待测数据输入模型中，初步确定失效阵元个数和阵元失效的概率，再根据辐射补偿的公式对待测结果进行数据补偿，依次确定阵元失效的位置。

本发明授权一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法在权利要求书中公布了：1.一种基于数据容差分析扩展的天线阵列故障诊断方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、数据处理：在远场区域上测量多个方向的远场辐射数据，生成功率信息，利用容差分析对测量得到的功率方向图做预处理，得到考虑阵元位置误差下的功率方向图的上下界，从而将单个数据扩展为多个，得到扩展数据集；其中通过容差分析得到功率方向图的上下界具体方法为：确定每个阵元的位置区间，通过容差分析得到功率方向图的上界和下界，其中功率方向图是由远场辐射的实部区间和虚部区间构成，先计算相位区间的上界和下界，再计算区间函数，对所有的上界和下界求和获得和区间的上界和下界，和分别表示远场辐射的实部区间和虚部区间，θk是第k个方向的观测角和阵列参考坐标系的z正轴的夹角；再通过对远场辐射数据的实部与虚部耦合的情况进行放缩，最终得到存在位置误差时的功率方向图的区间边界；S2、训练故障诊断模型，故障诊断模型的输入为扩展数据集，输出为失效阵元的位置和数目；S3、对与S1中相同方向的采样点上的远场数据进行测量，将数据输入到训练好的神经网络中，确认最可能失效的阵元位置，然后对辐射进行补偿，逐步确定所有可能失效阵元的位置，具体为：定义得到的测量数据为Ptested＝[Pθ1,Pθ2,...,PθK]T，K是测量点，输入到用于确定失效阵元个数的单标签神经网络f1中得到预测失效阵元个数f1是关联功率数据和失效阵元个数之间的神经网络；将Ptested输入到用于确定失效阵元位置的神经网络f2中，确定阵元失效概率向量p＝[p1,p2,...,pM]，其中，f2是用于学习存在误差的功率数据和失效阵元位置之间的神经网络，pi,i∈[1,M]表示第i个阵元失效的概率；将得到的阵元失效概率做排序，取失效概率最大值和次大值的标记为pu和pv，并认为其中有一个阵元失效；迭代执行以下步骤直至利用pu和pv，对第u个和第v个阵元进行补偿，补偿后第k个远场辐射数据分别为： 其中，f是工作频率，c是光速，xu是第u个阵元的激励，xv是第v个阵元的激励，du是第u个阵元的实际位置，dv是第v个阵元的实际位置；设置将补偿后的和得到的功率数据代替Ptested输入到神经网络f2中，得到新的概率向量和比较p[u]和p[v]中的最大值，若最大值在p[u]中，判定第u个阵元失效；否则，判定第v个阵元失效，更新u，v。

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