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龙图腾网恭喜深圳市埃芯半导体科技有限公司申请的专利X射线衍射谱的标定方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN118566273B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-23发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410386503.0，技术领域涉及：G01N23/2055；该发明授权X射线衍射谱的标定方法、装置、电子设备及存储介质是由请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名;请求不公布姓名设计研发完成，并于2024-04-01向国家知识产权局提交的专利申请。

本X射线衍射谱的标定方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请提供了X射线衍射谱的标定方法、装置、电子设备及存储介质，应用于X射线衍射仪，标定方法包括：获取待测样品的平面夹角、样品晶格间距、样品衍射阶数、参考衍射峰像素坐标及测量衍射峰像素坐标，以及预设复色光源的角度分辨率、特征峰对应的波长；基于平面夹角、样品晶格间距、样品衍射阶数及任一特征峰对应的波长，确定参考衍射峰像素坐标对应的参考角度；基于参考角度、参考衍射峰像素坐标、测量衍射峰像素坐标及角度分辨率，确定待测样品的X射线衍射谱的任一像素对应的标定角度值；降低了数据采集及数据处理的复杂度，提高了X射线衍射谱的角度刻度精度，进而提高了待测样品参数的准确度和精确度。

本发明授权X射线衍射谱的标定方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种X射线衍射谱的标定方法，其特征在于，应用于X射线衍射仪，包括：获取待测样品的平面夹角、样品晶格间距、样品衍射阶数、参考衍射峰像素坐标及测量衍射峰像素坐标，以及预设复色光源的角度分辨率、特征峰对应的波长，其中，所述角度分辨率为所述预设复色光源在定标样品的X射线衍射谱的任一像素对应的角度值，所述预设复色光源包括至少2个所述特征峰，所述平面夹角为所述待测样品的测量晶面与水平方向之间的夹角；基于所述平面夹角、所述样品晶格间距、所述样品衍射阶数及任一所述特征峰对应的波长，确定所述参考衍射峰像素坐标对应的参考角度；基于所述参考角度、所述参考衍射峰像素坐标、所述测量衍射峰像素坐标及所述角度分辨率，确定所述待测样品的X射线衍射谱的任一像素对应的标定角度值，包括：基于所述参考角度、所述参考衍射峰像素坐标、所述测量衍射峰像素坐标及所述角度分辨率，通过第一标定角度值计算式确定所述待测样品的X射线衍射谱的任一像素对应的标定角度值，所述第一标定角度值计算式为： 其中，为任一像素i对应的标定角度值；为所述参考角度；为所述角度分辨率；为所述测量衍射峰像素坐标；为所述参考衍射峰像素坐标。

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