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龙图腾网恭喜长鑫存储技术有限公司申请的专利测试方法及测试系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115938451B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110955486.4，技术领域涉及：G11C29/08；该发明授权测试方法及测试系统是由孙圆圆;王佳;尚为兵设计研发完成，并于2021-08-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本测试方法及测试系统在说明书摘要公布了：本申请实施例涉及半导体电路测试领域，特别涉及一种测试方法及测试系统，包括：向存储模块中写入第一初始数据，ECC模块基于第一初始数据，编码生成对应于第一初始数据的第一校验数据；向存储模块的同一地址中写入第二初始数据，ECC模块基于第二初始数据，编码生成对应于第二初始数据的第二校验数据；向存储模块的同一地址中写入第一初始数据；读出存储模块中的第一初始数据和第二校验数据，ECC模块基于第一初始数据，编码生成对应于第一初始数据的第三校验数据，并基于第三校验数据校验并修正第二校验数据；读出存储器的第一读出数据，并基于第一读出数据，判断ECC模块的功能是否异常，以提供对存储器的ECC功能简单且可靠的测试方法。

本发明授权测试方法及测试系统在权利要求书中公布了：1.一种测试方法，应用于存储器，所述存储器包括存储模块和ECC模块，其特征在于，包括：向所述存储模块中写入第一初始数据，所述ECC模块基于所述第一初始数据，编码生成对应于所述第一初始数据的第一校验数据，并将所述第一校验数据写入所述存储模块；向所述存储模块的同一地址中写入第二初始数据，所述ECC模块基于所述第二初始数据，编码生成对应于所述第二初始数据的第二校验数据，并将所述第二校验数据写入所述存储模块，存储在所述存储模块中的所述第二初始数据覆盖所述第一初始数据，所述第二校验数据覆盖所述第一校验数据，其中，所述第一初始数据与所述第二初始数据具有数据差异；向所述存储模块的同一地址中写入所述第一初始数据，存储在所述存储模块中的所述第一初始数据覆盖所述第二初始数据；读出所述存储模块中的所述第一初始数据和所述第二校验数据，所述ECC模块基于所述第一初始数据，编码生成对应于所述第一初始数据的第三校验数据，并基于所述第三校验数据校验并修正所述第二校验数据；读出所述存储器的第一读出数据，并基于所述第一读出数据，判断所述ECC模块的功能是否异常，所述第一读出数据为从所述存储模块读出的所述第一初始数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人长鑫存储技术有限公司，其通讯地址为：230601 安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。