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龙图腾网恭喜中国核电工程有限公司申请的专利一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115825131B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-16发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211239061.4，技术领域涉及：G01N23/223；该发明授权一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统是由马敬;房映彤;刘权卫;杨菡;赵雅平;张兆清设计研发完成，并于2022-10-11向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统在说明书摘要公布了：本发明提供一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统，高压发生器朝向X光管中的靶材发射电子，靶材响应于电子入射而发射原级X射线，半环弯晶衍射器从中分离出预设能量范围的X射线，并聚焦后导向至样品室中的样品上，样品响应于预设能量范围的X射线入射而发射荧光X射线，放射性元素探测组件中的全环弯晶衍射器从中分离出放射性元素的特征X射线，并聚焦后导向至探测器中，不同的放射性元素探测组件用于探测并接收不同放射性元素的特征X射线。本发明可提高光源的衍射效果和聚焦性，实现单色X射线的筛选，大大降低放射性元素的检出限，提高测量准确度，同时从硬件的单色性克服不同质量浓度下多个放射性元素谱峰的重叠干扰问题。

本发明授权一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统在权利要求书中公布了：1.一种用于微量放射性元素同时测量的X射线荧光分析系统，其特征在于，包括：高压发生器、X光管、半环弯晶衍射器、样品室、多个放射性元素探测组件，所述高压发生器设于X光管的一侧，用于朝向X光管中的靶材发射电子，以使所述靶材响应于电子入射而发射原级X射线，所述半环弯晶衍射器设于X光管和样品室之间，用于从所述原级X射线中分离出预设能量范围的X射线，并聚焦后导向至样品室中的样品上，所述样品室用于放置放射性样品，所述放射性样品响应于所述预设能量范围的X射线入射而发射荧光X射线，所述放射性元素探测组件包括全环弯晶衍射器和放射性元素探测器，全环弯晶衍射器设于样品室和放射性元素探测器之间，用于从所述荧光X射线中分离出放射性元素的特征X射线，并聚焦后导向至探测器中，不同的放射性元素探测组件用于探测并接收不同放射性元素的特征X射线；所述全环弯晶衍射器具有梭形通孔，所述梭形通孔的孔壁形成所述全环弯晶衍射器的衍射面，或，所述全环弯晶衍射器包括两个半环弯晶衍射器，所述半环弯晶衍射器包括载体，所述载体具有凹面，所述凹面上沉积有石墨晶体，两个半环弯晶衍射器对称拼接后形成所述全环弯晶衍射器，两个沉积有石墨晶体的凹面围合形成梭形通孔，所述梭形通孔的孔壁形成所述全环弯晶衍射器的衍射面。

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