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龙图腾网恭喜深圳市晶存科技股份有限公司申请的专利一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119580816B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-13发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510113142.7，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质是由杨祖放设计研发完成，并于2025-01-24向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质在说明书摘要公布了：本发明公开了一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质，方法包括：对待测存储器进行初始化后得到初始存储器；根据预设写入次数将测试数据重复写入所述初始存储器第n行和第m列的所述存储单元中，并在每次写入测试数据时对第n行的其他存储单元进行数据校验得到校验结果；根据校验结果将初始存储器配置为良品存储器或故障存储器。通过全面且有针对性地检测整个存储器中某一个存储单元在写入数据时，同一行的其他存储单元的数据变化，提前发现因硬件故障导致的数据跳变情况，从而将不良品筛选出来，保障最终交付使用的存储器产品质量，减少因硬件问题引发的后续故障排查和维修成本。

本发明授权一种存储器测试方法、系统、装置及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种存储器测试方法，其特征在于，包括：对待测存储器进行初始化后得到初始存储器，所述初始存储器中所有存储单元的数据被初始化为预设数据；根据预设写入次数将测试数据重复写入所述初始存储器第n行和第m列的所述存储单元中，并在每次写入所述测试数据时对第n行的其他所述存储单元进行数据校验得到校验结果，n和m均表示大于或等于1的正整数，n小于或等于所述存储单元的最大行数N，m小于或等于所述存储单元的最大列数M；所述数据校验表征在对第n行和第m列的所述存储单元进行数据写入的情况下，对第n行的其他所述存储单元进行数据跳变检测；在所述校验结果表征第n行的其他所述存储单元的存储数据等于所述预设数据的情况下，将第n行和第m列的所述存储单元配置为良好单元，否则将第n行和第m列的所述存储单元配置为故障单元；在所述初始存储器中的所有所述存储单元均不为故障单元的情况下，将所述初始存储器配置为良品存储器，否则将所述初始存储器配置为故障存储器。

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