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龙图腾网恭喜上海交通大学;昆山晶微新材料研究院有限公司申请的专利型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114720499B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110011670.3，技术领域涉及：G01N23/2251；该发明授权型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质是由姜海涛;邢辉;张佼;陆树生设计研发完成，并于2021-01-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在说明书摘要公布了：本申请涉及一种型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质，本申请的型材缺陷检测方法包括：获取具有缺陷的型材微观组织图；根据所述具有缺陷的型材微观组织图，分析得到缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果，确定项目检测顺序；根据所述项目检测顺序，进行所述型材的缺陷成因判断流程。故本申请能够改善型材缺陷检测方法，改良型材制造工艺，从而提高了型材质量。

本发明授权型材缺陷检测方法、装置、电子设备和存储介质在权利要求书中公布了：1.一种型材缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取具有缺陷的型材微观组织图；根据所述具有缺陷的型材微观组织图，分析得到缺陷检测结果；根据所述缺陷检测结果，确定项目检测顺序；根据所述项目检测顺序，进行所述型材的缺陷成因判断流程；其中，所述根据所述缺陷检测结果，确定项目检测顺序，包括：将所述缺陷检测结果输入第二预设模型；利用所述第二预设模型，对所述缺陷检测结果进行缺陷与待测项目的相关性分析；根据所述缺陷与待测项目的相关性分析结果，确定所述项目检测顺序；所述根据所述项目检测顺序，进行所述型材的缺陷成因判断流程，包括：根据所述项目检测顺序，进行初始项目检测；判断所述缺陷是否与所述初始项目相关；若所述缺陷与所述初始项目无关，则根据所述项目检测顺序，进行下一待测项目的检测；若所述缺陷与所述初始项目有关，则调整所述初始项目的相关参数；根据所述调整的相关参数，对所述初始项目进行重新检测；判断所述初始项目的缺陷成因是否消除；若所述初始项目的缺陷成因没有消除，则继续调整所述初始项目的相关参数；若所述初始项目的缺陷成因消除，则判断所有待测项目的缺陷成因是否完全消除；若所有的所述待测项目的缺陷成因未完全消除，则根据所述项目检测顺序，进行下一待测项目的检测；若所有的所述待测项目的缺陷成因完全消除，则结束所述缺陷成因判断流程。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人上海交通大学;昆山晶微新材料研究院有限公司，其通讯地址为：200030 上海市徐汇区华山路1954号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。