恭喜上海华虹宏力半导体制造有限公司王磊获国家专利权
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龙图腾网恭喜上海华虹宏力半导体制造有限公司申请的专利一种快速振荡器振荡频率测试系统及方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN114740259B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210314526.1,技术领域涉及:G01R23/10;该发明授权一种快速振荡器振荡频率测试系统及方法是由王磊设计研发完成,并于2022-03-28向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种快速振荡器振荡频率测试系统及方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种快速振荡器振荡频率测试系统及方法,所述测试系统包括:待测芯片,包含待测的振荡器和或振荡频率校正电路,用于产生待测振荡输出;过冲增强网络,用于将所述待测芯片的振荡输出转换为所需特定阻尼的过冲振荡;测试仪,用于利用其高速数字通道对带有过冲的振荡器输出进行采样,加载测试程序对采样的跳变数据进行归一化处理以过滤冗余的采样信息,并根据跳变数据的归一化处理结果计算获得测试频率。
本发明授权一种快速振荡器振荡频率测试系统及方法在权利要求书中公布了:1.一种快速振荡器振荡频率测试系统,包括:待测芯片,包含待测的振荡器和或振荡频率校正电路,用于产生待测振荡输出;过冲增强网络,用于将所述待测芯片的振荡输出转换为所需特定阻尼的过冲振荡;测试仪,用于利用其高速数字通道对带有过冲的振荡器输出进行采样,加载测试程序对采样的跳变数据进行归一化处理以过滤冗余的采样信息,并根据跳变数据的归一化处理结果计算获得测试频率。
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