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龙图腾网恭喜南京理工大学申请的专利基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115144371B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210847769.1，技术领域涉及：G01N21/41；该发明授权基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法是由左超;吴雪娟;陈钱;孙佳嵩;卢林芃;陈样设计研发完成，并于2022-07-19向国家知识产权局提交的专利申请。

本基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法在说明书摘要公布了：本发明公开了一种基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法，该方法在无透镜片上显微实验系统上，仅使用波长可调谐的光源进行照明，采集一系列同轴全息图。然后通过迭代的傅里叶叠层方法填充三维散射势谱，直接恢复样品的三维折射率分布。本发明无需对传统无透镜片上显微镜进行复杂的改造，可赋予无透镜片上显微镜像素超分辨的三维层析成像的能力。

本发明授权基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法在权利要求书中公布了：1.一种基于波长扫描的无透镜傅里叶叠层衍射层析显微成像方法，其特征在于，步骤如下：步骤1，采集原始强度图；步骤2，构建被测物体的三维折射率空间；步骤3，确定对应波长下采集到的全息图在三维频谱上对应的位置，并得到样品的新折射率分布，具体步骤为：步骤3.1，计算相应波长下的样品散射势，具体公式为： 式中，Vr,ω为样品散射势，r＝rx,ry,rz表示三维空间坐标，ω＝2πcλ为角频率，c为真空中光束，表示真空中波数，nr为样品折射率分布，nm为背景介质折射率；步骤3.2，对样品散射势Vr,ω做三维傅里叶变换，得到三维傅里叶频谱其中u＝ux,uy,uz是空间频率坐标；对三维子频谱在沿uz方向进行投影，得到二维子频谱公式如下 其中uT＝ux,uy表示二维空间频率坐标；kmω为周围介质中的波矢，kmω＝|kmω|＝k0ωnm是周围介质中的波数，k0ωnm为三维子频谱的半径，δ·为狄拉克δ函数；步骤3.3，对二维子频谱进行逆傅里叶变换，得到焦平面上的归一化的一阶散射场复振幅Us1nrT,ω；根据焦平面上的归一化的一阶散射场复振幅，结合Rytov近似，获得焦平面上的复数振幅；步骤3.4，使用角谱方法将焦平面上的复数振幅传到传感器平面，得到传感器平面的复振幅UrT,ω0，并用强度图IrT,ω的平方根进行振幅更新，将更新传播到聚焦面，得到更新后的聚焦面散射场复振幅步骤3.5，对复振幅取ln·运算，获得更新的归一化一阶散射场对进行傅里叶变换，得到更新的二维频谱将重新映射成埃瓦尔德球壳，并插入到原三维频谱中的相应位置，对更新的三维频谱进行三维逆傅里叶变换后，得到样品的新折射率分布步骤4，根据样品的新折射率分布，重复步骤3，完成单个波长下的三维频谱迭代，获得样品最终的折射率分布。

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