恭喜尹开甲获国家专利权
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龙图腾网恭喜尹开甲申请的专利机加工工艺设计中的公差控制方法及产品检测方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN116460664B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-05-02发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202310290126.6,技术领域涉及:B23Q23/00;该发明授权机加工工艺设计中的公差控制方法及产品检测方法是由尹飞凰;尹开甲设计研发完成,并于2023-03-22向国家知识产权局提交的专利申请。
本机加工工艺设计中的公差控制方法及产品检测方法在说明书摘要公布了:本发明公开了一种机加工艺设计中的公差控制方法及产品检测方法。其中,一种机加工艺设计中的公差控制方法,在设计产品与机械制图中,标注的公差要求a1、a3、δN;当第一、二定位基准各控制被加工要素的一个非恒定度方向上的位置时;当第二定位基准加工后,机床工作台不旋转直接加工被加工要素时;δN按照下面公式计算。本发明的有益效果为:本发明将“被测要素对第二定位基准上定位直线的几何关系公差”换算为“被测要素对整个第二定位基准的几何要求公差”,利用“被测要素对整个第二定位基准的几何要求公差”进行机械设计与工艺设计,第二定位基准已可以实现,提高了产品合格率。
本发明授权机加工工艺设计中的公差控制方法及产品检测方法在权利要求书中公布了:1.一种机加工工艺设计中的公差控制方法,其特征在于:在设计产品与机械制图中,标注的公差要求a1、a3、δN;当第一、二定位基准各控制被加工要素的一个非恒定度方向上的位置时;当第二定位基准加工后,机床工作台不旋转直接加工被加工要素时;δN按照下面公式计算;δN=a2;当第二定位基准与被加工要素有两个相同的非恒定度方向时,第二定位基准只能补充第一定位基准之不足,不能在第一定位基准已经定位的方向上再次定位,δN按照下面公式计算: 其中:a1——被测要素对第一定位基准间的几何公差;a2——被测要素对第二定位基准上定位直线的几何公差;a3——第二定位基准对第一定位基准间的几何公差;δN——被测要素对整个第二定位基准的几何公差。
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