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龙图腾网恭喜浙江华睿科技股份有限公司申请的专利PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115035031B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-29发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210492875.2，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质是由周赏;史为平;刘羽;周璐;李铭设计研发完成，并于2022-05-07向国家知识产权局提交的专利申请。

本PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在说明书摘要公布了：本申请公开一种PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质，属于缺陷检测技术领域，该方法包括：获取N个线激光相机采集的待检测电路板的点云数据，基于各线激光相机采集的点云数据，生成待检测电路板上PIN针的第一深度图，基于第一深度图和参考电路板上PIN针的第二深度图，判断待检测电路板上的PIN针是否缺失，进而输出至少包括待检测电路板上缺失PIN针的位置指示信息的缺陷检测结果，其中，N是基于待检测电路板的尺寸和单个线激光相机的采集范围确定的，参考电路板上的PIN针不存在缺陷，从而提供了一种借助于线激光相机对PIN针进行缺陷检测的方案。

本发明授权PIN针的缺陷检测方法、装置、电子设备及存储介质在权利要求书中公布了：1.一种PIN针的缺陷检测方法，其特征在于，包括：获取N个线激光相机采集的待检测电路板的点云数据，其中，N是基于所述待检测电路板的尺寸、PIN针设置方式和单个线激光相机的采集范围确定的；基于各线激光相机采集的点云数据，生成所述待检测电路板上PIN针的第一深度图；基于所述第一深度图和参考电路板上PIN针的第二深度图，判断所述待检测电路板上的PIN针是否缺失，所述参考电路板上的PIN针不存在缺陷；输出缺陷检测结果，所述缺陷检测结果至少包括所述待检测电路板上缺失PIN针的位置指示信息；所述N个线激光相机包括一个主相机和N-1个从相机，基于各线激光相机采集的点云数据，生成所述待检测电路板上PIN针的第一深度图，包括：基于每个从相机到所述主相机的坐标系之间的转换关系，将所述从相机采集的点云数据转换到所述主相机的坐标系中；对各从相机转换后的点云数据和所述主相机的点云数据进行融合处理，得到所述待检测电路板的完整点云数据；基于所述完整点云数据，生成所述第一深度图。

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