恭喜叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司获国家专利权
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龙图腾网恭喜叶晓明;重庆大恒工程设计有限公司申请的专利一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112880548B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202110257987.5，技术领域涉及：G01B7/16；该发明授权一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法是由叶晓明;陈柏林;郭琪;傅翔设计研发完成，并于2021-03-09向国家知识产权局提交的专利申请。
本一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法在说明书摘要公布了：本发明提出一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法，在测试区L两端设两个固结区，将多个电阻应变片Yi两端固结在测试对象上；在测试区L范围内，每个电阻应变片Yi的长度为Li‑1＜Li≤Li‑11+δ（i=2,...,i,...n，δ表示电阻应变片有效测试应变量程。当第i个电阻应变片Yi失效时，第i+1个电阻应变片Y1+1进入测试状态；变形测试数据为应变片Yi数据叠加Yi起始点同一时间点的Yi‑1末端数据，以此类推完成大变形检测。本发明将电阻应变片小变形测试优势拓展到大变形测试领域，能够提高大变形检测精度、拓展大变形检测范围，有很好的应用市场前景。
本发明授权一种继承性大变形电阻应变片测试结构及测试方法在权利要求书中公布了：1.一种继承性大变形电阻应变片测试结构，其特征在于：在测试点布置多个不同长度的电阻应变片Yi，每个电阻应变片通过导线（2）外接测试仪器（3）；在测试区L两端设两个固结区（1），将电阻应变片Yi两端固结在测试对象（4）上，或者先将电阻应变片Yi固结在测试载体（5）上，再将测试载体（5）固结在测试对象4上；在测试区L范围内，第一个电阻应变片Y1的长度为L1=L，其它电阻应变片Yi的长度为Li-1＜Li≤Li-11+δ（i=2,...,i,...n，i表示电阻应变片编号，n≥2为应变片数量，δ表示电阻应变片有效测试应变量；根据测试变形量最大值确定电阻应变片Yi的数量n。
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2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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