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龙图腾网恭喜致茂电子(苏州)有限公司申请的专利具有荧光检测功能的双面光学检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115774000B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111037107.X，技术领域涉及：G01N21/64；该发明授权具有荧光检测功能的双面光学检测系统是由李明翰;孙皓格设计研发完成，并于2021-09-06向国家知识产权局提交的专利申请。

本具有荧光检测功能的双面光学检测系统在说明书摘要公布了：本发明公开了一种具有荧光检测功能的双面光学检测系统，其对承载在透光支撑膜上的多个晶粒的正反两面进行检测，其中，所测晶粒的反面具有荧光粉涂层。该双面光学检测系统包含：检测座及分别配置在检测座上下两侧的第一检测机及第二检测机，检测座通过扩膜调节组件对透光支撑膜进行控制，使晶粒间的间距加大，第一检测机及第二检测机均采用属于可见光波长范围的检测光来进行检测，其中第二检测机还包括利用较短波长的检测光来对被激发光进行检测的配置。这样，透光支撑膜可具有较佳支撑性且让各个晶粒易于被个别检测，也使晶粒的正反两面可在同一检测系统内被完成检测。

本发明授权具有荧光检测功能的双面光学检测系统在权利要求书中公布了：1.一种具有荧光检测功能的双面光学检测系统，其用于对承载在一透光支撑膜上的多个晶粒的正反两面进行检测，其中，所述多个晶粒的反面具有荧光粉涂层；所述双面光学检测系统包含：一检测座，其包括一载台及配置在所述载台上的一扩膜调节组件，所述载台具有贯通本体的一检测通孔，所述扩膜调节组件是用于使所述透光支撑膜被维持在所述检测通孔的上方，以及用于拉伸所述透光支撑膜使被承载的所述多个晶粒之间的间距被加大；一第一检测机，其配置于所述透光支撑膜的上侧，所述第一检测机用于产生属于可见光波长范围的一第一检测光以照射所述多个晶粒的正面，所述第一检测机还用于接收反射自所述多个晶粒的正面且属于可见光波长范围的一第一反射光；及一第二检测机，其配置于所述透光支撑膜的下侧以透过所述检测通孔及所述透光支撑膜对所述多个晶粒的反面进行检测，所述第二检测机用于产生属于可见光波长范围的一第二检测光以及用于产生一第三检测光以照射所述多个晶粒的反面，所述第二检测机还用于接收反射自所述多个晶粒的反面且属于可见光波长范围的一第二反射光，以及用于接收基于所述第三检测光的激发而自所述多个晶粒的反面所出射的一被激发光，其中所述第三检测光的波长短于所述第一检测光及所述第二检测光的波长。

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