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恭喜英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司赵林获国家专利权

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龙图腾网恭喜英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司申请的专利球栅阵列的缺陷分析方法与设备获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113836489B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111123454.4,技术领域涉及:G06F17/18;该发明授权球栅阵列的缺陷分析方法与设备是由赵林;杨阳设计研发完成,并于2021-09-24向国家知识产权局提交的专利申请。

球栅阵列的缺陷分析方法与设备在说明书摘要公布了:本发明提供用于芯片上球栅阵列的分析方法,包括获取芯片上球栅阵列中的缺陷球栅的检测数据,所述检测数据描述了所述芯片中每个缺陷球栅的参考点物理位置以及物理覆盖范围,基于一预定的像素分辨率将所述参考点物理位置以及物理覆盖范围转译成像素表示的参考像素位置与像素覆盖范围,以及基于所述参考像素位置与像素覆盖范围,生成表征所述缺陷球栅的缺陷类型的指示。

本发明授权球栅阵列的缺陷分析方法与设备在权利要求书中公布了:1.一种用于芯片上球栅阵列的分析方法,包括:获取芯片上球栅阵列中的缺陷球栅的检测数据,所述检测数据描述了所述芯片中每个缺陷球栅的参考点物理位置以及物理覆盖范围;基于一预定的像素分辨率将所述参考点物理位置以及物理覆盖范围转译成像素表示的参考像素位置与像素覆盖范围;基于所述参考像素位置与像素覆盖范围,生成表征所述缺陷球栅的缺陷类型的图形符号指示;其中所述物理覆盖范围具有第一特征类型与第二特征类型,所述分析方法进一步包括:获取所述芯片的标准球栅阵列的图形符号的标准模板,所述标准模板包括每个标准球栅的标准像素位置数据与标准图形符号,其中所述标准球栅阵列的图形符号具有所述像素分辨率;以所述参考像素位置为基准,遍历所述像素覆盖范围内的每个点,以确定其中的至少二个点,其中所述至少二个点中的每一个点与所述标准模板中其标准像素位置位于所述像素覆盖范围之外的标准球栅的高斯距离最短;将所述至少二个点标记为第一缺陷类型的缺陷球栅的第一确认位置并存储所述第一确认位置的像素位置数据;或者以所述参考像素位置为基准,遍历所述像素覆盖范围内的每个点,以确定其中的一个点,其中所述一个点与所述标准模板中其标准像素位置位于所述像素覆盖范围之外的标准球栅的高斯距离最短;将所述一个点标记为第二缺陷类型的缺陷球栅的第二确认位置并存储所述第二确认位置的像素位置数据。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人英特尔产品(成都)有限公司;英特尔公司,其通讯地址为:611731 四川省成都市高新技术开发区西区科新路8-1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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