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龙图腾网恭喜成都光明光电股份有限公司申请的专利光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115032459B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210460349.8，技术领域涉及：G01R27/26；该发明授权光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法是由蒋子安;刘惠芳设计研发完成，并于2022-04-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法，该方法包括以下步骤：1将光学玻璃材料样品制备成直径均匀的圆柱形杆状材料；2重入式同轴腔测试设备空腔校准和系统校准；3在重入式同轴腔测试设备内的测试空腔中放入待测光学玻璃材料样品，进入相对介电常数和介电损耗的测试过程，得到相对介电常数ε测ˊ和介电损耗ε测"的数据；4对相对介电常数ε测ˊ、介电损耗ε测"进行修正得到相对介电常数εˊ、介电损耗ε"。本发明测试光学玻璃材料的相对介电常数的测量误差1.5％，介电损耗的测量误差20％，能很好地降低光学玻璃材料的测量误差，使测量结果更能体现光学玻璃材料的介电性能。

本发明授权光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法在权利要求书中公布了：1.光学玻璃材料的相对介电常数和介电损耗的测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：1将光学玻璃材料样品制备成直径均匀的圆柱形杆状材料；2重入式同轴腔测试设备空腔校准和系统校准；3在重入式同轴腔测试设备内的测试空腔中放入待测光学玻璃材料样品，进入相对介电常数和介电损耗的测试过程，得到相对介电常数ε测ˊ和介电损耗ε测"的数据；4通过下式1对相对介电常数ε测ˊ、介电损耗ε测"进行修正得到相对介电常数εˊ、介电损耗ε"：ε＝k-dε测1式中：ε：分别为相对介电常数εˊ、介电损耗ε"k：修正系数d：光学玻璃材料样品直径ε测：分别为相对介电常数ε测ˊ、介电损耗ε测"其中，修正系数k用多个不同直径d的光学玻璃材料样品采用下式2、3计算： 式中ε0：光学玻璃材料样品相对介电常数、介电损耗的标值n：取样数量d1、d2…dn：分别为第1、2～n个光学玻璃材料样品直径ε1、ε2…εn：分别为第1、2～n个光学玻璃材料样品相对介电常数ε测ˊ、介电损耗ε测"。

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