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龙图腾网恭喜浙江艾凯普计算机系统服务有限公司申请的专利存储芯片老化测试管理方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN117912536B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202410028429.5，技术领域涉及：G11C29/56；该发明授权存储芯片老化测试管理方法及系统是由李凯乐;钱燕妮设计研发完成，并于2024-01-08向国家知识产权局提交的专利申请。

本存储芯片老化测试管理方法及系统在说明书摘要公布了：公开了一种存储芯片老化测试管理方法及系统。其首先收集实验室的试验状态信息，接着，基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常，然后，响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据，最后，将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试。这样，可以提升存储芯片老化测试的准确性和可靠性。

本发明授权存储芯片老化测试管理方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种存储芯片老化测试管理方法，其特征在于，包括：收集实验室的试验状态信息；基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常；响应于所述实验室的测试环境正常，搭建监听服务器，所述监听服务器用于设备客户端接入，其中，所述监听服务器录有基础数据；以及将上下料设备和测试设备接入所述监听服务器，并在测试连通后，对存储芯片进行老化测试；其中，所述试验状态信息包括试验状态、试验排班时间、打扫状态、试验仪器、实验室温度数据、湿度数据、实验室温控空调的运行状态以及实验室设备的运行状态；其中，基于所述试验状态信息，确定实验室的测试环境是否正常，包括：对所述试验状态信息中的各个数据项进行编码以得到多个试验状态信息项编码特征向量；对所述多个试验状态信息项编码特征向量进行上下文试验状态语义关联编码以得到多个上下文试验状态信息项编码特征向量；对所述多个上下文试验状态信息项编码特征向量中各个上下文试验状态信息项编码特征向量进行基于特征分布整体的语义重要性加权分析以得到试验状态信息全局语义编码特征；以及基于所述试验状态信息全局语义编码特征，确定实验室是否存在异常。

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