恭喜中国科学院精密测量科学与技术创新研究院陈世桢获国家专利权
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龙图腾网恭喜中国科学院精密测量科学与技术创新研究院申请的专利基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN118135096B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-08发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202410092662.X,技术领域涉及:G06T17/00;该发明授权基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法是由陈世桢;江谋;袁亚平;张磊;周欣设计研发完成,并于2024-01-23向国家知识产权局提交的专利申请。
本基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法在说明书摘要公布了:本发明公开了基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法,能在超高场条件下实现快速定量组织的T1,T2和T1ρ。本发明通过在传统MRF序列中添加包含了绝热脉冲的准备模块,在信号演化中引入T1、T2和T1ρ权重。结合EPG方法,对磁化矢量的演化进行了仿真,建立了不同弛豫时间值组合的磁共振指纹字典。将采集并重建得到重建图像与磁共振指纹字典进行匹配,从而得到T1、T2和T1ρ定量图。本发明方法与传统方法相比,无需分别采集多组信号进行指数拟合,大幅缩短了扫描时间。
本发明授权基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法在权利要求书中公布了:1.基于磁共振指纹超高场T1,T2和T1ρ定量测量方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1,设计磁共振脉冲序列,磁共振脉冲序列中包括随机交替排列的T1准备模块、T2准备模块和T1ρ准备模块,其中T1ρ准备模块采用绝热半通过射频脉冲,T2准备模块和T1准备模块均采用绝热脉冲;步骤2,使用扩展相位图EPG方法结合步骤1设计的磁共振脉冲序列,模拟磁共振信号演化过程,计算出磁共振指纹字典;步骤3,使用步骤1设计的磁共振脉冲序列,采样获得磁共振k空间数据;步骤4,将磁共振k空间数据进行重建,获得重建图像;步骤5,将重建图像与磁共振指纹字典进行匹配识别,得到T1、T2和T1ρ多参数定量图,其中T1指自旋-晶格弛豫时间,T2指自旋-自旋弛豫时间,T1ρ指旋转坐标系中的自旋-晶格弛豫时间;所述步骤1中:T1ρ准备模块从一个沿x轴的90°绝热半通过射频脉冲开始,将磁化矢量翻转到XY平面;随后,沿y轴施加连续自旋锁定脉冲以锁定横向磁化强度;在自旋锁定时间TSL内,磁化强度根据旋转坐标系中的自旋-晶格弛豫时间T1ρ衰减;然后沿-x轴施加第二个90°绝热半通过射频脉冲将使磁化矢量返回到纵向方向;T1准备模块从一个沿x轴的180°绝热脉冲开始,将磁化矢量从z轴翻转到-z轴;T2准备模块从一个沿x轴的90°矩形射频脉冲开始,将磁化矢量翻转到XY平面;在经过自旋-自旋弛豫时间T2之后,施加两个180°绝热脉冲,用于减小主磁场B0和射频场B1不均匀性的影响;然后再经过自旋-自旋弛豫时间T2之后,沿-x轴施加第二个90°矩形射频脉冲使磁化矢量返回到纵向方向。
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