恭喜长鑫存储技术有限公司林祐贤获国家专利权
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龙图腾网恭喜长鑫存储技术有限公司申请的专利硅通孔检测电路及方法、集成电路获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN111198316B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-04-04发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：201811367326.2，技术领域涉及：G01R31/28；该发明授权硅通孔检测电路及方法、集成电路是由林祐贤设计研发完成，并于2018-11-16向国家知识产权局提交的专利申请。
本硅通孔检测电路及方法、集成电路在说明书摘要公布了：本公开是关于一种硅通孔检测电路及检测方法、集成电路，所述硅通孔检测电路包括：输入模块和比较模块，输入模块包括第一开关单元，控制端连接第一检测控制信号，第一端连接第一电源端，第二端连接硅通孔的第一端，用于响应第一检测控制信号而导通将第一电源信号传输至硅通孔的第一端；比较模块第一输入端连接硅通孔的第二端，第二输入端连接参考信号，用于比较硅通孔第二端的信号和参考信号。通过第一检测控制信号控制第一开关单元导通，将第一开关单元第一端的第一电源信号经过和第一开关单元第二端连接的硅通孔传输至比较模块的第一输入端，比较模块的第二输入端输入参考信号实现了硅通孔连通性的检测，结构简单，适用于大规模集成电路。
本发明授权硅通孔检测电路及方法、集成电路在权利要求书中公布了：1.一种硅通孔检测电路，其特征在于，所述硅通孔检测电路包括：输入模块，包括第一开关单元，控制端连接第一检测控制信号，第一端连接第一电源端，第二端连接硅通孔的第一端，用于响应第一检测控制信号而导通将第一电源信号传输至硅通孔的第一端；比较模块，第一输入端连接硅通孔的第二端，第二输入端连接参考信号，用于比较所述硅通孔第二端的信号和所述参考信号；输出模块，所述输出模块设置于所述硅通孔和所述比较模块之间，且所述输出模块包括触发器和第二开关单元。
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1、本报告根据公开、合法渠道获得相关数据和信息，力求客观、公正，但并不保证数据的最终完整性和准确性。
2、报告中的分析和结论仅反映本公司于发布本报告当日的职业理解，仅供参考使用，不能作为本公司承担任何法律责任的依据或者凭证。
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