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龙图腾网恭喜北京君正集成电路股份有限公司申请的专利一种TU划分深度的判决方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114598879B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202011413462.8，技术领域涉及：H04N19/176；该发明授权一种TU划分深度的判决方法是由张立兰设计研发完成，并于2020-12-03向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种TU划分深度的判决方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种TU划分深度的判决方法，所述方法通过对预测残差数据特性进行分析，采用由4x4块向上递归的方式，依据局部复杂度一致性mergeTU的原则，判断当前CU对应的TU划分深度，对残差数据局部复杂度不一致的区域作TU划分。所述方法作用于帧间预测后有残差的TU划分，对于残差数据局部复杂度不一致的CU强制作TU的划分，并通过由下向上的四叉树递归merge得到TU的划分深度；整个流程分为分析残差特性、获取子块merge条件、判断TU深度三部分。本发明通过帧间预测残差局部复杂度与整体复杂度的一致性判断TU的划分深度。能很好的识别局部波动不一致的情况，同时整体波动小和整体波动大的情况不受影响。

本发明授权一种TU划分深度的判决方法在权利要求书中公布了：1.一种TU划分深度的判决方法，其特征在于，所述方法通过对预测残差数据特性进行分析，采用由4x4块向上递归的方式，依据局部复杂度一致性mergeTU的原则，判断当前CU对应的TU划分深度，对残差数据局部复杂度不一致的区域作TU划分，所述方法作用于帧间预测后有残差的TU划分，对于残差数据局部复杂度不一致的CU强制作TU的划分，并通过由下向上的四叉树递归merge得到TU的划分深度；整个流程分为分析残差特性、获取子块merge条件、判断TU深度三部分；所述方法进一步包括以下步骤：S1，分析残差特性：将残差数据的波动值sad作为复杂度衡量条件；对四叉树划分的子块计算残差数据波动值sad、最大最小偏差值diff、数据平均值avg，作为判决块局部数据复杂度是否一致的条件；S1.1,分别计算四个子块的sad、diff、avg，判断局部复杂度: ； ; ;其中，resi代表残差数据，N=4；S1.2，计算父块的sad_sad、diff_sad、avg_sad，判断局部与整体复杂度的一致性程度： ； ； ； ；S2，获取子块merge的条件，对局部和整体复杂度一致的子块向上merge：S2.1，设定阈值:sad_sad_min_thrd=12;diff_sad_min_thrd=15;avg_sad_min_thrd=10;max_sad_thrd=60;S2.2，将上述分析的数据结果sad_sad、diff_sad、avg_sad、sad_min与上面给定阈值比较，获取残差数据整体与局部复杂度一致性的标记； ； ； ； ；S2.3,根据上面条件标记当前块的四个子块是否为复杂度一致： ；S3，判断TU深度：S3.1，在tu_depth[N4]中存储当前CU将使用的TU划分深度，其中N4代表CU中可划分的4x4的个数；S3.2，将当前CU的残差数据以四叉树方式进行递归划分直到划分为4x4为止，通过步骤S2中的方法判断子块是否向上merge；S3.3，若merge，则该子块在tu_depth[]对应存储区域通过块大小查表赋值；如此递归得到当前CU的TU划分深度结果。

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