买专利卖专利找龙图腾，真高效！ 查专利查商标用IPTOP,全免费！专利年费监控用IP管家,真方便！

龙图腾网恭喜中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))申请的专利一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN119555711B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-28发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202510120710.6，技术领域涉及：G01N23/04；该发明授权一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备是由路国光;付志伟;刘陆川;陈义强设计研发完成，并于2025-01-26向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备在说明书摘要公布了：本发明公开了一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备，所述方法包括：设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；对探测器表面直接照射X射线，获得空场探测图像像素点灰度值：将待测材料放置在探测器表面，对探测器表面照射X射线，获得满场探测图像像素点灰度值；根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数；将观察区域的变异系数与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数低于判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格。本发明能够对材料不同区域的致密性、厚度的一致性等进行快速检验判断。

本发明授权一种材料均匀性的自动化检测方法和计算机设备在权利要求书中公布了：1.一种材料均匀性的自动化检测方法，其特征在于，包括：检测条件设置步骤，设置X射线发射器的电压、电流和曝光时间条件，并且设置待测材料的观察区域和均匀性判定标准；空场测试步骤，按照所设置的电压、电流和曝光时间条件，利用X射线发射器对探测器表面直接照射X射线，获得透射图像作为空场探测图像，计算得到空场探测图像的像素点灰度值；满场测试步骤，按照所设置的电压、电流和曝光时间条件，将待测材料放置在探测器表面，利用X射线发射器对探测器表面照射X射线，获得透射图像作为满场探测图像，计算得到满场探测图像的像素点灰度值；变异系数计算步骤，根据空场探测图像的像素点灰度值和满场探测图像的像素点灰度值，计算获取待测材料在观察区域的变异系数CV： ，其中，N为观察区域的像素点总个数，为观察区域第i个像素点位置的衰减系数u与透射距离d的乘积，为观察区域所有像素点位置的衰减系数u与透射距离d的乘积的均值，且 ,其中，为空场探测图像的（x，y）坐标位置的像素点灰度值，为满场探测图像的（x，y）坐标位置的像素点灰度值；均匀性判定步骤，将观察区域的变异系数CV与所设置的均匀性判定标准进行对比，当变异系数CV低于均匀性判定标准时判断材料均匀性满足要求，否则判断材料均匀性不合格；在空场测试步骤中，根据下式计算得到空场探测图像的像素点灰度值： ,其中：为空场测试中（x，y）坐标像素点位置探测器接收的X射线剂量，k为常数；在满场测试步骤中，根据下式计算得到满场探测图像的像素点灰度值： ,其中：为满场测试中（x，y）坐标像素点位置探测器接收的X射线剂量。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术，可联系本专利的申请人或专利权人中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))，其通讯地址为：511370 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号；或者联系龙图腾网官方客服，联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。