恭喜京东方科技集团股份有限公司赵静获国家专利权
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龙图腾网恭喜京东方科技集团股份有限公司申请的专利检测芯片及检测系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN112834763B 。
龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202010367824.8，技术领域涉及：G01N35/00；该发明授权检测芯片及检测系统是由赵静;张玙璠;袁春根;安光明设计研发完成，并于2020-04-30向国家知识产权局提交的专利申请。
本检测芯片及检测系统在说明书摘要公布了：一种检测芯片和检测系统，该检测芯片包括加样开口和至少一个检测分支结构。至少一个检测分支结构中的每个包括检测部；检测部包括检测凹槽和反应试剂，检测凹槽与加样开口连通，反应试剂容纳在检测凹槽中，检测部被配置为允许对位于检测凹槽中的反应试剂进行光学检测。该检测芯片可有助于实现自动化检测，并可有助于实现便于携带的检测装置。
本发明授权检测芯片及检测系统在权利要求书中公布了：1.一种检测芯片，包括：加样开口，至少一个检测分支结构，其中，所述至少一个检测分支结构中的每个包括：检测部，包括检测凹槽和反应试剂，其中，所述检测凹槽与所述加样开口连通，所述反应试剂容纳在所述检测凹槽中，所述检测部被配置为允许对位于所述检测凹槽中的所述反应试剂进行光学检测，其中，所述至少一个检测分支结构中的每个还包括导流槽，所述导流槽具有第一端和第二端，所述导流槽的第一端与所述加样开口连通，所述导流槽的第二端与所述检测凹槽连通，以使所述检测凹槽通过所述导流槽与所述加样开口连通，所述检测芯片还包括：第一基板，具有第一表面，其中，所述加样开口为所述第一基板中的通孔，所述导流槽和所述检测凹槽形成在所述第一基板的第一表面；以及第二基板，层叠在所述第一基板的第一表面上且在对应于所述检测凹槽的位置允许进行所述光学检测。
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