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龙图腾网恭喜长沙麓邦光电科技有限公司申请的专利测量镜架稳定性的方法及系统获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114018554B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202111141725.9，技术领域涉及：G01M11/08；该发明授权测量镜架稳定性的方法及系统是由程文治;李晓春;代林茂;李晓林;范颖超设计研发完成，并于2021-09-28向国家知识产权局提交的专利申请。

本测量镜架稳定性的方法及系统在说明书摘要公布了：本发明涉及光学仪器测评技术领域，公开一种测量镜架稳定性的方法及系统，以确保测量的可靠性和便捷性。方法包括：在待测镜架上装载第一反射镜，并将该第一反射镜部署在干涉观测系统的一列光路中；采集干涉条纹图像，确定一观测干涉条纹明暗变化的参照点的坐标；按周期采集干涉条纹图像并提取所述参照点的像素信息；根据所提取的像素信息拟合所述参照点随时间的像素信息变化曲线；根据所述像素信息变化曲线中波峰和波谷的分布周期性和干涉条纹所对应光源的波长、以及所述第一反射镜与干涉条纹图像采集装置之间的几何空间信息计算所述待测镜架的稳定性指标。

本发明授权测量镜架稳定性的方法及系统在权利要求书中公布了：1.一种测量镜架稳定性的方法，其特征在于，包括：在待测镜架上装载第一反射镜，并将该第一反射镜部署在干涉观测系统的一列光路中；采集干涉条纹图像，确定一观测干涉条纹明暗变化的参照点的坐标；按周期采集干涉条纹图像并提取所述参照点的像素信息；根据所提取的像素信息拟合所述参照点随时间的像素信息变化曲线；根据所述像素信息变化曲线中波峰和波谷的分布周期性和干涉条纹所对应光源的波长、以及所述第一反射镜与干涉条纹图像采集装置之间的几何空间信息计算所述待测镜架的稳定性指标；计算所述待测镜架的稳定性指标的方法具体为：Δ＝k·λ其中，Δ代表光程差，k表示亮条纹改变的级次，λ表示光的波长，待测镜架的移动引起两列光产生一个光程差，使得在激光波长确定下的情况下，改变的光程差与条纹改变的级次成正比；计算待测镜架的旋转弧度； 其中，Q为待测镜架的旋转弧度，D为待测镜架与CCD之间的距离；或者 其中，m为表征明暗变化周期的峰谷值数量。

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