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恭喜北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所)张博获国家专利权

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龙图腾网恭喜北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所)申请的专利一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN113902721B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202111198383.4,技术领域涉及:G06T7/00;该发明授权一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统是由张博;赵永进;潘峰;王文丽;薛书亮;袁丽娟设计研发完成,并于2021-10-14向国家知识产权局提交的专利申请。

一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统在说明书摘要公布了:本申请提供了一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统,所述调整方法包括:获取待检测工件的特征信息,并基于所述待检测工件的特征信息确定出所述待检测工件的参考移动轨迹;在所述待检测工件移动过程中,获取所述待检测工件的多张移动图像,并基于所述多张移动图像确定出所述待检测工件的实际移动轨迹,其中,所述多张移动图像是通过跟随所述待检测工件的移动主动获取的;若所述实际移动轨迹与所述参考移动轨迹不一致,基于所述参考移动轨迹调整所述待检测工件的位置。实现了实时、准确的比对待检测工件动态轨迹和实际轨迹的误差,并提供补偿运动轨迹的参数,实现了自动校准的功能。

本发明授权一种工件位置的调整方法、控制处理装置及调整系统在权利要求书中公布了:1.一种工件位置的调整方法,其特征在于,应用于工件位置的控制处理装置,所述调整方法包括:获取待检测工件的特征信息,并基于所述待检测工件的特征信息确定出所述待检测工件的参考移动轨迹;在所述待检测工件移动过程中,获取所述待检测工件的多张移动图像,并基于所述多张移动图像确定出所述待检测工件的实际移动轨迹,其中,所述多张移动图像是通过环绕设置在待检测工件所处场景四周的多个摄像装置跟随所述待检测工件的移动主动获取的;若所述实际移动轨迹与所述参考移动轨迹不一致,基于所述参考移动轨迹调整所述待检测工件的位置;通过以下步骤获取所述待检测工件的特征信息:获取目标场景图像,对所述目标场景图像进行颜色灰度处理获得样本场景图像;提取所述样本场景图像内包括的所有轮廓信息;基于所述轮廓信息确定出所述待检测工件的特征信息;通过以下步骤确定出所述待检测工件的参考移动轨迹:将所述待检测工件的特征信息与特征数据库中预先存储的多个参考特征信息进行匹配,确定出与所述待检测工件的特征信息相匹配的目标特征信息;将与所述目标特征信息匹配的参考移动轨迹,确定出所述待检测工件的参考移动轨迹。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人北京半导体专用设备研究所(中国电子科技集团公司第四十五研究所),其通讯地址为:100176 北京市北京经济技术开发区泰河三街1号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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