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龙图腾网恭喜同济大学申请的专利一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114463291B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210071512.1，技术领域涉及：G06T7/00；该发明授权一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法是由王超;李志远;李佳;曾祥隧;许雄;童小华;谢欢;冯永玖;刘世杰;叶真;柳思聪;金雁敏;陈鹏设计研发完成，并于2022-01-21向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法在说明书摘要公布了：本发明涉及一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法，该方法包括：S1、对VISNIR影像数据分别做主成分分析和波段组合，对第一主成分结果PC1*和波段组合结果BC10*分别做两种归一化；S2、利用第一主成分和波段组合的归一化结果构建代表两种阴影指数的SId图像和SIs图像；S3、利用Otsu算法分别对SId图像和SIs图像进行阈值分割，得到两幅阴影粗检测结果图像；S4、对SId和SIs的阴影检测结果，利用z‑score的绝对值进一步精化检测，得到阴影精检测结果；S5、利用阴影精检测结果和红外成像光谱仪VNIS探测的光谱数据修正VISNIR和SWIR波段光谱的阴影效应。与现有技术相比，本发明对红外成像光谱仪高光谱数据中存在的阴影具有较高的检测精度，并能够修正VISNIR以及SWIR波段光谱的阴影效应。

本发明授权一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法在权利要求书中公布了：1.一种面向红外成像光谱仪的阴影检测与修正方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1：对VISNIR影像数据分别做主成分分析和波段组合，对第一主成分结果PC1*和波段组合结果BC10*分别做两种归一化；步骤S2：利用第一主成分和波段组合的归一化结果构建代表两种阴影指数的SId图像和SIs图像；步骤S3：利用Otsu算法分别对SId图像和SIs图像进行阈值分割，得到两幅阴影粗检测结果图像；步骤S4：对SId和SIs的阴影检测结果，利用z-score的绝对值进一步精化检测，得到阴影精检测结果，具体包括：步骤S41：将SId图像检测的非阴影区域作为初始非阴影区域；步骤S42：将SIs图像检测的阴影区域作为初始阴影区域；步骤S43：对SId图像检测到而SIs图像没有检测到的阴影像素，逐个计算其与SId图像检测的非阴影区域的均值的z-score的绝对值，记作z1，和其与SIs图像检测的阴影区域的均值的z-score的绝对值，记作z2；如果z1大于z2，则将该像素记为阴影像素，否则记为非阴影像素，判定结束得到阴影精检测结果；步骤S5：利用阴影精检测结果和红外成像光谱仪VNIS探测的光谱数据修正VISNIR和SWIR波段光谱的阴影效应，具体包括：步骤S51：利用SWIR与VISNIR在900-950nm的10个重合波段，计算反射率差值的均值，将VISNIR的每一个波段的反射率加上这个均值，得到调整后的VISNIR的光谱；步骤S52：计算SWIR视场内阴影区域和非阴影区域所占的比例，对VISNIR影像的每一个波段，计算视场内阴影区域和非阴影区域的平均亮度值；步骤S53：利用SWIR视场内阴影区域和非阴影区域的占比和平均亮度值，计算VISNIR每一个波段由于阴影的存在导致视场内平均亮度下降的系数；步骤S54：对VISNIR每一个波段的反射率除以所述系数，得到修正阴影效应的VISNIR光谱；步骤S55：利用SWIR与VISNIR的10个重合波段，计算修正阴影效应的VISNIR与SWIR的反射率的差值的均值，将SWIR的每一个波段的反射率加上这个均值，得到修正阴影效应的SWIR光谱。

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