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龙图腾网恭喜上海利扬创芯片测试有限公司申请的专利一种SITE MAP添加图的方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN114548070B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202210164805.4，技术领域涉及：G06F40/194；该发明授权一种SITE MAP添加图的方法是由朱思琴;张钦祥;陈聪设计研发完成，并于2022-02-23向国家知识产权局提交的专利申请。

本一种SITE MAP添加图的方法在说明书摘要公布了：本发明揭示了一种SITEMAP添加图的方法，所述方法包括如下步骤：S100、导入SITEMAP图文件；S200、导入probe文件；S300、根据导入的SITEMAP图文件和probe文件，对二者进行比对，比对后，产生新的标准MAP图文件。本发明摒弃了现有技术中人工比较文件的方法，相比现有技术，本发明更加快捷方便，且不容易出错，方便作业人员快速并精确的进行统计。

本发明授权一种SITE MAP添加图的方法在权利要求书中公布了：1.一种SITEMAP添加图的方法，所述方法包括如下步骤：S100、导入SITEMAP图文件；S200、导入probe文件；S300、根据导入的SITEMAP图文件和probe文件，对二者进行比对，比对后，产生新的标准MAP图文件；S400、基于新的标准MAP图文件，将新的MAP添加到MES系统；S500、在MES系统中设定SiteYieldGap卡关，所述SiteYieldGap卡关根据每个sitepass数每个sitetestdie数而确定；S600、解析probe文件内容，获得如下参数：device模板的测试区的范围，测试die的个数，以及外围markdie的个数；S700、执行所述步骤S100和S200后，获得如下参数：最小坐标x，最小坐标y，最大坐标x，最大坐标y，原始最小坐标x，原始最小坐标y，原始最大坐标x，原始最大坐标y，包含Mark点总数，不含Mark点总数，BIN1总数，其他BIN总数，批次，片号；S800、生成坐标范围；S900、复制标准MAP图；S1000、复制坐标范围；其中，步骤S200中，通过探针台prober空跑出一个SITE信息的文件而获得所述probe文件；每测完一片晶圆，就基于其SITEMAP图文件和probe文件获得新的标准MAP并添加到MES系统中实际测试图中，然后进一步在MES筛选测试BIN和SITE，即可统计出每一片的sitegap并可导出site测试报告；SiteYieldGap卡关=MaxSiteYield-MinSiteYield，其中SiteYield=每个sitepass数每个sitetestdie数；所述方法对BIN，SITE进行统计并在MES系统上展示和筛选；SiteYieldGap卡关触发时MES系统上标识，触发后，在MES系统上通过相应的标识来查阅有关信息；其中，步骤S300中，比对的原则为：防止die缺失和错位；步骤S300中，按照die的一一对应关系比对；步骤S300中，比对后，融合probe文件中的信息至所述SITEMAP图文件中的信息，以产生新的标准MAP图文件。

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