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恭喜哈尔滨工业大学荆宇航获国家专利权

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龙图腾网恭喜哈尔滨工业大学申请的专利一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法获国家发明授权专利权,本发明授权专利权由国家知识产权局授予,授权公告号为:CN115083546B

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉:该发明授权的专利申请号/专利号为:202210769735.5,技术领域涉及:G16C60/00;该发明授权一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法是由荆宇航;李兴冀;李胡阳;吕钢;杨剑群设计研发完成,并于2022-06-30向国家知识产权局提交的专利申请。

一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法在说明书摘要公布了:本发明提供了一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法,属于模拟技术领域,所述方法包括:建立与材料对应的体系模型;设定模拟参数,利用从头算分子动力学方法对所述体系模型进行离位阈能的模拟计算,并获取演化完成后的体系结构,其中,所述模拟参数包括PKA预设能量;根据所述体系结构的状态确定后续模拟计算所需施加的新的PKA能量,并进行再次模拟计算,直至所述体系结构中首次产生稳定缺陷,获取此时的PKA能量,并将其确定为所述材料的离位阈能。本发明解决了半导体材料离位阈能无法定量且准确计算的问题,且方法逻辑清晰,步骤简单且易于操作。

本发明授权一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法在权利要求书中公布了:1.一种基于从头算分子动力学方法计算材料离位阈能的方法,其特征在于,包括:步骤S1,建立与材料对应的体系模型;步骤S2,设定模拟参数,利用从头算分子动力学方法对所述体系模型进行离位阈能的模拟计算,并获取演化完成后的体系结构,其中,所述模拟参数包括PKA预设能量;步骤S3,根据所述体系结构的状态确定后续模拟计算所需施加的新的PKA能量,并进行再次模拟计算,直至所述体系结构中首次产生稳定缺陷,获取此时的PKA能量,并将其确定为所述材料的离位阈能;所述步骤S3具体包括:判断在PKA预设能量下演化得到的初始结构中是否存在稳定缺陷;当所述初始结构中存在所述稳定缺陷时,以所述PKA预设能量为初始能量,按照第一方法确定后续模拟所需施加的新的PKA能量;当所述初始结构中不存在所述稳定缺陷时,将所述PKA预设能量按预设能量步长递增,直至所述体系结构中产生稳定缺陷,获取此时PKA的能量为所述初始能量,并按照所述第一方法确定后续模拟所需施加的新的PKA能量;所述按照第一方法确定后续模拟所需施加的新的PKA能量具体包括:将所述初始能量以第一设定能量步长递减,直至所述体系结构中不再产生稳定缺陷,获取此时的PKA能量为第一能量;将所述第一能量以第二设定能量步长递增,直至所述体系结构中产生稳定缺陷,获取此时的PKA能量为第二能量;将所述第二能量确定为所述材料的离位阈能,或者将所述第二能量按不同的设定能量步长以递减、递增轮替的方式继续进行模拟,直至所述体系结构中产生稳定缺陷,获取此时的PKA能量为第n能量;将所述第n能量确定为所述材料的离位阈能;其中,n为大于或等于3的整数,且第一设定能量步长至第n设定能量步长依次减小。

如需购买、转让、实施、许可或投资类似专利技术,可联系本专利的申请人或专利权人哈尔滨工业大学,其通讯地址为:150000 黑龙江省哈尔滨市南岗区西大直街92号;或者联系龙图腾网官方客服,联系龙图腾网可拨打电话0551-65771310或微信搜索“龙图腾网”。

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