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龙图腾网恭喜中国科学院长春光学精密机械与物理研究所申请的专利过零点偏移的修正方法获国家发明授权专利权，本发明授权专利权由国家知识产权局授予，授权公告号为：CN115900560B 。

龙图腾网通过国家知识产权局官网在2025-03-25发布的发明授权授权公告中获悉：该发明授权的专利申请号/专利号为：202211637163.1，技术领域涉及：G01B11/02；该发明授权过零点偏移的修正方法是由王之一;王廷煜;王建立;糜小涛;杨永强设计研发完成，并于2022-12-16向国家知识产权局提交的专利申请。

本过零点偏移的修正方法在说明书摘要公布了：本发明提供一种过零点偏移的修正方法，根据差动共聚焦信号曲线的线性区间长度设置采样间隔，并对差动共聚焦信号曲线进行标定，通过预设条件对采样获取的原始数据进行筛选后使用插值方法获取均匀间隔的差分信号数据，再结合余弦相似度的约束算法获取标定数据和原始数据中最适配标准数据，从而获得精确的过零点位置。本发明所提供的修正方法解决了由于测量速率和采样精度的矛盾，非常适合工程实际应用。在增大采样步长，提高采样速率的同时，保障了精度的鲁棒性，并且通过所提供的修正方法，既能够提高测量速度又能够获取均匀的采样间隔，避免引起过零点偏移而导致的测量误差，使得差动共聚焦测量系统获得更大的应用空间和更多的应用场合。

本发明授权过零点偏移的修正方法在权利要求书中公布了：1.一种过零点偏移的修正方法，其特征在于，所述修正方法包括如下步骤：S1、将平面反射镜置于差动共聚焦测量系统，获取差动共聚焦信号曲线，在所述差动共聚焦信号曲线的线性区间内设置采样间隔，使所述线性区间至少包含三个采样点；S2、使用平面反射镜对差动共聚焦测量系统的差动共聚焦信号曲线进行标定：获取作为标定数据的第一差分信号序列，根据第一预设条件对所述第一差分信号序列中的数据进行筛选；S3、将待测物置于差动共聚焦测量系统，以所述采样间隔为差动共聚焦测量系统的扫描测量步长进行等间隔采样，获取位置信息和位置信息所对应的第二差分信号，获取第二差分信号序列，根据第一预设条件对所述第二差分信号序列中的数据进行筛选后，使用插值对筛选后的第二差分信号序列进行插值处理；S4、基于余弦相似度，确定筛选后第一差分信号序列和插值后的第二差分信号序列中相似度最高的一组差分信号，获取所述相似度最高的一组差分信号所对应的位置信息，作为第一位置信息；根据第二预设条件对插值后的第二差分信号序列进行筛选，并获取所对应的第二位置信息，结合所述第一位置信息和所述第二位置信息获取偏移的修正后的过零点位置信息；所述第一预设条件进行筛选具体为：获取第t1个采样点的差分信号数据，提取第t1-N到t1+N个采样点的差分信号数据；所述第t1个采样点的差分信号数据满足：第t1个采样点差分信号强度大于等于0，且第t1+1个采样点差分信号强度小于0；其中，N＞1；所述第二预设条件进行筛选具体为：获取第t2个采样点的差分信号数据，所述第t2个采样点的差分信号数据满足：第t2个采样点差分信号强度大于等于0，且第t2+1个采样点差分信号强度小于0。

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